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Y-HD-225L IC寿命老化测试试验箱芯片高低温湿热测试箱
点击次数：12发布时间：2023/3/16 11:58:20
更新日期：2023/3/16 11:58:20
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产品型号：Y-HD-225L
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详细内容
IC寿命老化测试试验箱芯片高低温湿热测试箱用于针对于电工、电子产品，以及其原器件，及其它材料在高温、低温的环境下贮存、运输、使用时的适应性试验。适用于电工、电子、仪器仪表及其它产品、零部件及材料在高低温交变环境下贮存、运输、使用时的适应性试验，是各类电子、电工、电器、塑胶等原材料和器件进行耐寒、耐热、耐干性试验及品管工程的性测试设备，特别适用于光纤、LCD、晶体、电感、PCB、电池、电脑、手机等产品的耐高温、耐低温循环试验。
IC寿命老化测试试验箱芯片高低温湿热测试箱主要技术指标：
1、温度范围 -20℃、-40℃、-60℃、-70℃、～ 100℃（ 150℃）
2、湿度范围 30～98%RH（可按客户要求定制）
3、温度均匀度 ≤±2℃
4、温度波动度 ≤±0.5℃
5、湿度偏差 2/-3%RH
6、升温速率 2～3℃/min(可按客户要求定做)
7、降温速率 0.7～1℃/min(可按客户要求定做)
8、使用环境温度 常温25℃,通风良好
9、电源电压 AC220V/380V/50HZ
