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芯片研发专用低温湿热老化箱
点击次数：41发布时间：2023/3/21 16:39:28
更新日期：2023/3/21 16:39:28
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详细内容
芯片研发专用低温湿热老化箱构造美观,安全,用途广泛高低温试验箱是航空,汽车,家电,科研等领域*的测试设备,用于测试和确定电工,电子及其他产品及材料进行高温,低温,或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能。
芯片研发专用低温湿热老化箱参数
技术参数
1.温度范围：0℃-100℃ -20℃-100℃ -40℃-100℃ -60℃-100℃ -70℃-100℃
2.低温至常温，也可按客户需要定制非标试验箱，低温试验室
3.温度波动度：±0.5℃（空载时）
4.温度偏差：≤±2℃
5.升降温平均速率：0.7℃～1.0℃/min （空载时）
6.时间设定范围：0～9999 小时
7.电源要求：AC380V
宇航志达试验装备（东莞市）有限公司主营冷热冲击试验箱，高低温冷热冲击试验箱，大型冷热冲击试验箱，小型冷热冲击试验箱，三槽式冷热冲击试验箱等产品。
