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产品展示

复合型探针3D测量仪

点击次数:175发布时间:2019/9/2 14:49:48

复合型探针3D测量仪

更新日期:2020/11/17 16:04:58

所 在 地:中国大陆

产品型号:EVM-3020D

简单介绍:该仪器适用于以二坐标测量为目的一切应用领域。在机械、电子、钟表、塑胶、模具等行业被广泛使用。

优质供应

详细内容

 

仪器特点:
    强大的VCAD-3D测量软件,可实现所有二维平面测量功能,还具备拍地图、产品轮廓扫描、专业SPC统计、手动CNC、宏测量等功能。自带“RENISHAW”测头可实现部分三维尺寸接触式测量。
 
技术参数:
 
仪器型号
PZ-3020T
PZ-4030T
PZ-5040T
量测行程
300*200*220mm(X.Y.Z)
400*300*220mm(X.Y.Z)
500*400*220mm(X.Y.Z)
X.Y.Z*小显示值
0.0005mm
测量精度
X.Y  Axis:(3+L/200)μm
重复精度
3μm
影像放大倍率
24~156X(可扩展至12~312X)
测量方式
影像式+探针
CCD
43万像素彩色高清晰度摄影机(SONY芯片)
镜头
高清晰度0.7~4.5Xzoom光变焦镜头
测头
英国RENISHAW   MCP10  ¢2mm测头
工作距离
115mm(影像)
电脑
品牌电脑
测量软体
VCAD-3D
仪器基座
000级高稳定性花岗石底座
照明
上、下光源均采用可调亮度LED无影灯
外观尺寸
700*650*950mm
980*750*950mm
1050*800*950mm
仪器重量
180KG
300KG
500KG
 
测量软件介绍:
一、直接元素测量
    能测量12种元素(点、直接、圆、圆弧、椭圆、矩形、槽形、O形环、距离、角度、开运线、闭云线)。
     测量方法多样(自动判别测量、采点测量,对比测量、公差对比测量,预置元素)。
        单点采集方法有多种:可鼠标采点,十字线寻边采点,放大采点,直线采点,鼠标自动捕捉。
二、间接测量
    两元素之间的距离,两边夹角,多点构成平面的平面度等,都可以通过软件的构造功能来实现。可以构造的元素有:点,线,圆,弧,角度,平面等
三、影像测量高度差
    先在一个平面聚焦,软件会记录一个平面的点数据,然后在另一个面聚集,软件同样会记录下一个点的数据,软件通过亮点的坐标计算出两个面的高度差,误差小于0.005mm。
四、扫描功能
    可以把一个工件的轮廓扫描出来,然后转到CAD进行编辑,得出了设计图纸,从而得到此工件的数据,实现二维抄数。
五、地图功能
    可以可一个工件完整的图片拍出,在图片进行测量和标注。图片可以储存,在调出进行测量。
六、宏测量
    宏测量功能就是,将一连串相同的"构造测量",构造命令关联到一个按钮上,点击按钮,即开始执行宏测量功能,宏测量功能会自动完成构造动作,减少用户操作鼠标次数,提高工作效率。
七、模板测量
    模板测量方法,也是目测方法的一种,主要是通过用户眼睛目测,看是否合格,类似于投影仪上用到的标准规格板。
    模板测量,主要有十字线模板,方格模板和同心圆模板。
    十字线模板主要用来测量角度,方格模板主要是用来测量距离,通信团模板主要用来测量圆。
八、预置元素
    软件可以在机械坐标系或者工作坐标系随便预置元素。
九、坐标系建立
    可以随便建立多个工件坐标系,然后十字线随坐标旋转,因此不用去摆正元件。建立工件坐标系的还一个好处就是保持跟图纸一样的基准,这样测量时可以得到X和Y向距离。
十、数据输出
    测量完的数据不需要用手去抄写,可以直接导出到Word、Excel、Tct、Cad然后打印。
十一、专业SPC统计分析 PROFESSIONALSPC STATISTICS ANALYSIS
    将测量数据导入SPC可以生成常用的管制图,计理值管制图有;平均数全剧管制图,平均数标准差管制图,中位数全距管制图,个别值与移动全距管制图,直方图,CPK推移图,规格与制程标准管制图,制程状态分析图,制程建议分析图等。对生成的图形可以利用八大判定规则进行判定,为用户对产品品质状态及时了解,对于计数值数据还提供了单质量监控,及时了解产品状态。

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企业档案

  • 会员类型:免费会员
  • 工商认证: 【未认证】
  • 最后认证时间:
  • 法人:
  • 注册号:
  • 企业类型:生产商
  • 注册资金:人民币500万

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