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薄膜及块体 seebeck 系数和电阻率检测 嘉仪通 热电参数测试系统Namicro-Ⅲ
点击次数：167发布时间：2020/5/26 14:25:49
更新日期：2020/5/26 14:25:49
所 在 地：
产品型号：Namicro-Ⅲ
优质供应
详细内容
薄膜及块体塞贝克（seebeck） 系数和电阻率检测 嘉仪通 热电参数测试系统Namicro-Ⅲ
本仪器采用准动态法（具有技术）和四探针法分别测量样品的 seebeck 系数和电阻率。不仅可用于测量半导体块状样品，康铜、镍、铋等金属半金属样品，石墨、碳材料等非金属样品的seebeck 系数和电阻率，还可测薄膜（纳米）样品的 seebeck 系数和电阻率。
独特优势
拥有独立知识产权，获得多项技术；
动态法测量 seebeck 系数，避免了传统静态测量法在温差测量方面的系统误差，测量更准确；
seebeck 系数和电阻率测量不共用电压探针，避免出现微型热电偶断裂失效的问题；
采用双向加热系统；
自动断电保护；
附有薄膜附件（无需主机，直接使用），可直接测量膜材料常温下的 seebeck 系数和电阻率。
特点
硬件设计
1.动态法测量塞贝克系数，避免了静态测量法在温差测量方面的系统误差，测量更准确。
2.塞贝克系数测试采用双向加热技术，可实现双向加热动态测量。
3.电阻率测量和塞贝克系数测量不共用电压探针，避免了当前其它产品经常会出现的微型热电偶断裂失效的问题。
软件设计
1.界面友好，操作方便。可实时显示采集数据、测试状态以及测试结果。
2.高度自动化。既可以全自动测量，也支持半自动和手动采集测量。全自动测试时，只需设置起始温度、终了温度以及测试步长三个值即可，温度曲线设置大为简化。
3.数据采集处理实时显示，通过软件读取数据文件可一目了然地查看测量数据质量。
4.测试结果存储在以测试者名字命名的文件夹内、文件名涵盖样品以及测试时间信息，数据查看一目了然。数据存储为“. txt”格式，可以和各种办公软件如 Excel、Origin 等数据共享。
技术参数
| 温度范围 | RT~800 ℃ | RT~1000 ℃ | RT~1200 ℃ |
| 温控方式 | PID 程序控制 | ||
| 真空度 | ≤ 50Pa | ||
| 测试气氛 | 真空 | ||
| 测量范围 | 塞贝克系数：S ≥ 8x10 -6 V/K； 电阻率：10 -7 Ωm ~ 0.1Ωm | ||
| 分辨率 | 塞贝克系数：5x10 -8 V/K； 电阻率：5x10 -8 Ωm | ||
| 相对误差 | 塞贝克系数 ≤ 6%（拟合度：99.999%），电阻率 ≤ 5% | ||
| 测量模式 | 全自动 | ||
| 样品尺寸 | 块体样品： 长条形，长 x 宽：( 2~5 ) X ( 2~5 ) mm ； 高度：10 ~ 18mm 薄膜样品： 长方形，长 ≥ 23mm，宽 ≥ 28mm | ||
注：对于薄膜样品，目前只能测常温下的 seebeck 系数与电阻率，故无需真空与 PID 程序控制。
样品要求
块体：可直接切割加工处理，完成加工后具备平整上下端即可，其尺寸满足前述长宽高要求的长方体
若样品表面有腐蚀或氧化等杂质层覆盖，需对样品表面进行抛光处理，使材料裸露出来且保证接触良好
薄膜：满足上述尺寸要求， 待测面平整， 薄膜均匀性好， 保证与康铜片接触良好， 厚度可至 100nm，其均匀性有较高要求，薄膜厚度达到微米级较好
薄膜材料的衬底需选择电阻率较大或绝缘材料为宜，如玻璃、Si 等材料
测试样例
