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薄膜检测 非接触无损检测 热膨胀系数分析仪（TEA ）
点击次数：144发布时间：2020/5/26 14:54:27
更新日期：2020/5/26 14:54:27
所 在 地：
产品型号：TEA-300 TEA-1200 TEA-1800
优质供应
详细内容
热膨胀系数分析仪（TEA ）
独特优势
可广泛应用于辅助各种功能薄膜材料的研究与开发及质量检验
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自主知识产权产品，拥有多项技术
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基于光干涉原理的创新技术
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采用 PID 调节与模糊控制相结合形式控制的红外加热方式，大温区连续、高速温度跟随、既定
程序升温及保持控制
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非接触式无损检测，测试精度高
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具备外接抽真空设备、循环水冷设备及载气或制冷能力
测试原理
基于光干涉原理，测量透明材料及非透明材料的热膨胀系数。
激光器射出的光线经分光镜照射到样品上表面，产生反射光，同时投射光照射到下表面也产生
一束反射光，两束反射光在光电探测器处发生干涉，反射光功率发生周期性变化，得到光功率随材料温度的变化曲线，通过计算得到热膨胀系数。
技术参数
型号 TEA-300 TEA-1200 TEA-1800
温度范围 RT~300 ℃ RT~1200 ℃ RT~1800 ℃
程序升温重复性偏差 ＜1.0%
程序升温速率偏差 ＜10.0%
热膨胀系数测量精密度偏差 ＜4.5%
热膨胀系数测量正确度偏差 ＜±15%
工作功率 4.0KW
升温速度 3000 ℃/min (50℃~1800℃，真空氛围)
2700 ℃/min (50℃~1800℃，N 2 氛围)
温场一致性 ± 2.0 ℃（1800℃，真空）
± 4.5 ℃（1800℃，N 2 ）
制冷要求 水冷
极限真空 50Pa 10Pa 1Pa
热膨胀薄膜材料检测厚度下限 266nm
热膨胀分析绝对量值 5.0×10 -10 m
