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FSM1201傅立叶红外光谱仪

点击次数:140发布时间:2020/3/4 15:39:59

FSM1201傅立叶红外光谱仪

更新日期:2020/3/4 15:39:59

所 在 地:

产品型号:FSM1201

简单介绍:可以适用多种配套附件和装置,包括ATR衰减全反射附件, 水平衰减全反射附件, 漫反射附件、镜面全反射附件、恒温气体样品池等,也可以实现TG-FTIR热重红外连用技术等。

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详细内容

鉴于FSM1201型傅立叶红外光谱仪是一种通用型的仪器,配置适中,是基础科研以及以及常规检测必备分析工具。FSM1201型样品室是标准大尺寸,可以适用多种配套附件和装置,包括ATR衰减全反射附件, 水平衰减全反射附件, 漫反射附件、镜面全反射附件、恒温气体样品池等,也可以实现TG-FTIR热重红外连用技术等

FSM1201型主要技术指标:

光谱范围, cm -1

400~7800

光谱分辨率, cm -1

1

信噪比, 1min, 4cm -1

>20000

图谱采集时间, 4cm -1

1 sec

分束器材料

KBr Ge镀层

检测器

LiTaO3

样品室尺寸,mm

150х190х170

仪器尺寸, mm

520х370х250

仪器重量, kg

28


FSM1201型基础科学应用案例:

文献资料:Correlations in Infrared Spectra of NanostructuresBased on Mixed Oxides

ISSN 1063-7834, Physics of the Solid State, 2015, Vol. 57, No. 12, pp.2373–2381. . Pleiades Publishing, Ltd., 2015.

标题:基于混合氧化物的纳米结构的红外光谱图相关性的研究

简介:采用SnO2-SiO2体系Sol-Gel溶胶—凝胶技术制造用于传感器的纳米薄膜,用INFRASPEK FSM 1201型傅立叶红外光谱仪及配套MNPVO36型ATR衰减全反射附件测定不同组成的溶胶图谱并找出相关性(图1)。为解决氧化硅基底强吸收峰的背景影响,对纳米薄膜红外图谱采集通过配套的PZO30镜面反射附件完成(图6)。

FSM1201型常规检测适用标准:

ASTM D 4053、ASTM、ASTMD 5845、ISO 7106、ISO 4650、ISO 9622、ISO 13884、ASTMD 2124、ASTM D 2238、ASTM D 2357、ASTM D 2702、ASTM D 3124、ASTM D 3414、ASTM D 3594、ASTM D 3677、ASTM D 3900、ASTM D 3921、ASTM D 4660、ASTM D 5576、ASTM D 5594、ASTM D 5670、ASTM D 6047、ASTM D 6248、ASTM D 6342、SEMI MF1188、SEMI MF1391、SEMI MF951、SEMI MF95

部分附件描述:

MNPVO36型ATR衰减全反射附件

用于研究液体、粉末、薄膜的化学成分。该方法大幅度简化了制样过程,适用于快速检测产品质量。

主要性能:

- 7次内部反射保证对低浓度高灵敏的测定;

- 标准材料为ZnSe,可以定制Ge或者Si;

- 吸收层选用厚度为1~50微米;

- 光谱测量时间1~2分钟。


PZO30型镜面反射附件

镜面反射红外光谱法是用于研究薄膜镀层的一种理想的分析方法。无需样品预处理就可以进行表面和薄膜的无损检测并测定薄膜厚度。根据镀层厚度选用相应的镜面反射的角度,我供应附件从10到80°反射角。



片状糊状样品分析附件



液体样品分析附件



气体样品分析附件



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