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AMPTEK-超快型X射线/X光硅漂移探测器
点击次数：579发布时间：2019/9/30 18:55:04
更新日期：2019/9/30 18:55:04
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产品型号：Fast SDD
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详细内容
下一代硅漂移探测器 (Next Generation SDD)
超快型硅漂移探测器 (Super Fast SDD)
10倍通量 & 不损失任何分辨率
| 能量分辨率（FWHM,[eV]） | 峰化时间（微秒） |
| 125 | 8 |
| 135 | 1 |
| 145 | 0.2 |
图1. 能量分辨率和峰化时间曲线
图2. 不同峰化时间条件下超快型硅漂移探测器的输出计数率和输入计数率的关系
图3. 不同峰化时间条件下超快型硅漂移探测器的能量分辨率和输入计数率的关系
图4. 一秒钟采集结果的定量分析1（样品为316型不锈钢-NIST 3155）
而以下表格则显示了图4中数据的定量分析结果。
| 元素 | 合格浓度 | Super SDD仅需1秒 |
| V | 0.05 | 0.16±0.28 |
| Cr | 18.45 | 18.32±0.80 |
| Mn | 1.63 | 0.0±0.55 |
| Fe | 64.51 | 65.89±1.64 |
| Co | 0.1 | 0.00±0.40 |
| Ni | 12.18 | 12.56±0.47 |
| Cu | 0.17 | 0.19±0.02 |
| Mo | 2.38 | 2.34±0.08 |
图5. 1.2Mcps输入计数率（ICR）情况下测量锰（Mn）样品
图6. 一秒钟采集结果的定量分析2（样品为焊锡）
更多信息请关注AMPTEK英文网站：www.amptek.com。
