芯片卡三轮反复循环测试机介绍：根据Master 卡CQM项目对卡进行三轮测试。卡被放到机器中，测试轮将循环测试100次，芯片前方滚动50次，芯片后方滚动50次，循环频率为0.5Hz，向下的压力为8N。经过测试，检查芯片情况，芯片应该是完好无损且功能正常。测试仪配有额外的一个15N砝码用于进行CQM标准推荐的测试。

芯片卡三轮反复循环测试机执行标准：

1.GB/T 16649.1-2006《识别卡 带触点的集成电路卡 第1部分：物理特性》；

2.GB/T 17554.3-2006《识别卡 测试方法 第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备》；

3.ISO/IEC 7816-1-2011《Identification cards －－ Integrated circuit cards －－ Part 1: Cards with contacts －－ Physical characteristics》

1.三轮测试仪型号：HY(SL)

2.测试轮循环次数：前后循环各50次

3.适用芯片面积≥4mm2.

4.向下施加压力砝码：1N、2N、3N、7N、8N 10N 12N 15N

 5.轮之间轴平面角度≤2°

6.ICC测试速度≤100mm/s.

7.循环测试频率：0.5HZ

8.测试标准参考: Mcd

9.CQM测试标准参考: P-22

10.测试方法参考: 10.3.22

11.CQM: 6.1.11-12.1.5.2 -16.1.18.2

 12.电源: 110-220 V 50/60 Hz.

13.测试厂家：衡翼

原创作者：上海衡翼精密仪器有限公司