好消息！法国Phasics公司高精度红外/近红外波前传感器取得出口豁免，无需出口许可！

法国Phasics成立于2003年，提供的光学计量和成像解决方案。PHASICS公司波前传感器采用其获得的四波横向剪切干涉测量术(QWLSI)。这项技术克服Shack-Hartmann传感器的局限性，从而可以获得超高分辨率、高灵敏度(亚纳米)和宽动态范围。

近期法国PHASICS公司从法国商务部获悉，公司提交申请的高精度红外（3-5um &8-14um）/近红外（900-1700nm）波前传感器出口豁免申请已获得通过。这就意味着客户采购SID4-DWIR红外（3-5um &8-14um）和SID4-SWIR近红外（900-1700nm）波前传感器时无需再提供*终用户备案。

下面我们将为大家详细的介绍下这几款波前分析仪：

1. SID4-SWIR近红外（900-1700nm）波前传感器

图1 SID4-SWIR波前分析仪

SID4-SWIR近红外（900-1700nm）波前传感器产品特点：

•  高相位分辨率：160x128 or 80x64

•  高重复度：<2nm RMS

•  高测量精度：15nm RMS

•  工作波段：900-1700nm

•  高灵敏度：可适用于低功率红外光源测试

•  瞬时相位测量，对振动不敏感

•  可接受非准直光入射，光路搭建简易快捷

2. SID4-DWIR红外（3-5um & 8-14um）波前分析仪

SID4-DWIR红外（3-5um & 8-14um）波前分析仪产品特点：

• 宽工作波段：3-5um & 8-14um

• 高相位分辨率：160x120

• 高重复度：25nm RMS

• 高测量精度：75nm RMS

• 对振动不敏感

• 可接受非准直光入射，光路搭建简易快捷

3. 近红外 or 红外光学元器件面型、透射波前、MTF测试系统

近红外 or 红外光学元器件面型、透射波前、MTF测试系统产品特点：

• 多波长：266nm, 355nm, 405nm，550nm, 625nm, 780nm, 940nm, 1050 nm，1.55um, 2.0um, 3.39um, 10.6um

• 大口径：Up to 5.1”(130mm)

• 高重复度精度：<0.7nm RMS

• 高测量精度：80nm PV

• 对震动不敏感

测试案例：

 图7 镜头MTF测试结果

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