紫外波段SID4-UV HR-免费试用7天！-火热预定中，先到先得

190-400nm紫外波段SID4 UV-HR免费试用!

紫外波段SID4 UV-HR免费试用

Phasics波前传感器以其独有的横向四波剪切技术闻名，其推出的SID4系列波前传感器以高灵敏度、高分辨率、高重复性的特点更受市场青睐，昊量光电推出免费试用-紫外波段SID4-UV HR样机活动，为190nm-400nm紫外波段科研方向研发助助力，为中国工业提提速！

PHASICS成立于2003年，提供zui先jin的光学计量和成像解决方案，从独立的SID4波前传感器到全自动测试台、Kaleo MTF、MultiWAVE，以及全模块化计量解决方案Kaleo Kit。PHASICS独特的、获得专li的波前传感技术被称为四波横向剪切干涉术（QWLSI）。

相位四波横向剪切干涉仪，称为SID4波前传感器，QWLSI技术是为了克服Shack-Hartmann (SH)技术的分辨率不足而开发的。它采用了智能衍射光栅设计，而不是哈特曼测试中使用的孔和夏克在20世纪60年代提出的微透镜。

图1 SID4波前传感器部分测试结果图

★什么是波前传感器?

波前传感器是一种设计用来测量光波前的装置。术语“波前传感器”;适用于不需要任何参考光束干扰的波前测量仪器。波前传感器的应用范围很广，如光学测试和对准(表面测量)、传输波前误差测量、调制。

★QWLSI四波横向剪切干涉测量原理

四波横向剪切干涉测量(QWLSI原理) 具有纳米级灵敏度和高分辨率的相位和强度。这项创新技术依靠衍射光栅将入射光束复制成4个相同的波。经过几毫米的传播，4个波纹重叠并干涉，在检测器上产生干涉图。

★QWLSI四波横向剪切干涉技术优势

四波横向剪切干涉测量技术(QWLSI)，也被称为改进哈特曼掩模技术，是一种获得专li的波前传感技术。它以其高空间分辨率，无需中继透镜即可测量发散光束的能力和消色差而脱颖而出。该技术于2004年由Phasics在市场上推出，现在因其性能和易于集成而获得认可。

★SID4 UV HR紫外波前传感器特点

在190nm ~ 400nm的紫外波段，SID4 UV HR波前分析仪具备高分辨率(512x512测量点)和高灵敏度。使用范围包括并不局限适用于光学元件表征(光刻、半导体)和表面测量(透镜和晶圆)。

★SID4 UV HR紫外波前传感器参数

关于生产商：

PHASICS成立于2003年，提供zui先jin的光学计量和成像解决方案，从独立的SID4波前传感器到全自动测试台、Kaleo MTF、MultiWAVE，以及全模块化计量解决方案Kaleo Kit。这一系列波前测量系统和定量相位成像解决方案基于创新的高分辨率波前传感技术。PHASICS独特的、获得专li的波前传感技术被称为四波横向剪切干涉术（QWLSI）。

上海昊量光电作为PHASICS在中国大陆地区zui大的代理商，为您提供专业的选型以及技术服务。对于PHASICS有兴趣或者任何问题，都欢迎通过电话、电子邮件或者微信与我们联系。

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