光学视角检测仪—近红外光源测量

低成本和紧凑的3D成像技术在人脸识别、机器视觉或激光雷达等各种应用领域的巨大发展，对近红外光源的表征提出了新的要求。在任何情况下，为了获得精确的三维图像，必须对其所有角度孔径范围内的光源发射特性进行精确表征和快速测量。

光学视角测试仪VCProbe-NIR-STG是为近红外中发光的DUT分析而优化的。 光学视角测试仪VCProbe-NIR-STG的设计是为了精确测量泛光照明器件、立体成像、结构光照明器件的特性。  

光学视角测试仪VCProbe-NIR-STG是测量小孔径近红外源的理想工具，并为近红外源如LED和激光器提供了一个有效的测量解决方案。

该系统可以在±70°视角锥内获得完整的地图，具有良好的角度分辨率，工作距离为4mm，允许非接触式测量。

推荐用于2.5 mm初始光瞳发射器。

DXY +/- 1mm的重复误差优于1%的位置，便于在线定位。

光学视角检测仪VCProbe-NIR-STG校准波长为940 nm，可用于研发和批量生产/质检应用，实现高速和精确的测量。


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光学视角测试仪VCProbe-NIR-DSD是专门为精确测量近红外源的小孔径而设计的。该系统可以测量激光雷达、闪光激光雷达、激光二极管和VCSEL等各种光源。

该系统具有非接触式测量，在一次测量中，产生±32°的视角，提供了显著的0.05°的角度分辨率。
这是一个为单个VCSEL优化的系统，工作距离为40mm。光学视角检测仪VCProbe-NIR-DSD允许高速和精确的测量应用研发以及批量生产/质检。

光学视角测试仪型号规格：