MD激光测距传感器（绝对距离测量）

MD激光测距传感器系列只对自身发出的光源敏感，因此不受外界环境光等干扰。同时可测量各种颜色、材质的物体，即使是半透明或者透明物体，仍不会影响测量结果。

1.通过集成光学原理实现超高精度的测量        

基于调频连续波（FMCW）的

相干接收原理，研发出独特的调

制解调技术，用于高精度的测距。通

过与精确控制的参考光路进行比对，

可实现微米级的远距准确测距。

基于硅基光电集成技术，把

相干检相光路和参考光路集成在芯片

里。同时，一体化的光学封装技术将

半导体激光器和探测器集成到一个统

一的光学传感模组上

2.非凡的抗干扰性和稳定性 

a.不受材质颜色、环境光等干扰

MD激光测距传感器系列只对自身发出的光源敏感，因此不受外界环境光等干扰。同时可测量各种颜色、材质的物体，即使是半透明或者透明物体，仍不会影响测量结果.

b.同轴测量无死角

传统三角法测量原理在深孔等测量时，由于接收不到反射光而导致无法测量。MD系列激光同轴位移传感器，是采用同轴测量的方式，光收发一体化，因此不会产生因死角导致的无法测量区域。

3.MD激光测距传感器可实现各种测量

4.MD激光测距传感器技术参数

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