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Prometheus X 27
Prometheus X结合了快的色度计和采样率高达每秒80万的高速Y通道。Admesy新色彩分析仪X 27/色度计和超高采样率波形分析仪的组合。Admesy新色彩分析仪X 27这种配置可以在实现很快、很准确的颜色测量的同时，尽可能高的分辨率捕获信号波形。
价 格：￥电议型 号：产 地：中国大陆
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PR-1050 光谱式亮度计
Photo Research PR-1050 SpectraScan 光谱测量仪以数十年的工程专业知识为依托，以Photo Research 7 系列为基础打造而成。 PR-1050 具有对任何基于光谱的光度和色度测量仪而言都zui为关键的两个属性 — 卓越的灵敏度和速度。
价 格：￥电议型 号：产 地：中国大陆
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Promethesu LF亮度计
Promethesu LF亮度计作为市面上快的亮度和闪烁测量仪器，Promethues LF 17mm闪烁亮度计的采样速度高达80万个/秒，其速度比久经考验、值得信赖的Asteria亮度计要高四倍以上。
价 格：￥电议型 号：产 地：欧洲
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Prometheus 内置取景器光谱仪
Prometheus 系列光谱仪将易用性和精确测量能力独特地结合在一起，结构稳固耐用。Prometheus 这款内置取景器的光谱仪采用高端冷却式 ccd 探测器，噪音低，动态范围大，采用全自动反光镜设计的相机取景器来识别测量的准确位置。
价 格：￥电议型 号：产 地：欧洲
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Prime系列背照式科学级sCMOS相机
Teledyne Imaging在各个领域拥有无可匹敌的专业知识和数十年的丰富经验。各个公司均能够单独提供解决方案。各个公司也能够相互结合并利用彼此的优势，以提供深入、全面的成像和相关技术产品组合。
价 格：￥电议型 号：产 地：中国大陆
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Prometheus-2.1mm（普罗米修斯色度计）
Promethues-2.1mm（普罗米修斯色度计）提供了一个独特的组合，高速和精确的色彩分析仪器。与hyperion色度计相比具有高度精确的滤波特性，更高采样速度和动态范围。
价 格：￥电议型 号：产 地：中国大陆
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Proteus系列1-9GHz任意波形发生器AWG
昊量光电新推出Proteus系列任意波形发生器AWG(Arbitrary Waveform Generator)，这款Proteus任意波形发生器是量子计算，雷达，和下一代5G6G通信，超宽带宽(UWB)，和WiFi(802.11) 6和7等应用的理想工具。基于新的射频DAC和射频ADC技术，该系列AWG具有高达9GS/s的采样速率和超过10GHz的多奈奎斯特区域频率范围能力。
价 格：￥电议型 号：Proteus系列产 地：中国大陆
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PROM光寻址空间光调制器
PROM是一种典型的光寻址空间光调制器（OASLM），采用光折变晶体Bi12SiO20(BSO), Bi12GeO20(BGO)，PROM的晶体可同时用作电光和光导介质。PROM光寻址空间光调制器的基本原理如下，光敏层检测写入光束强度分布，并诱导晶体内部的电子电荷分布。晶体的光学性质会随着光诱导电子电荷或光电压的变化而发生变化。施加的电偏压使移动载体漂移到晶体/电介质界面，直到晶体中的电场被抵消。
价 格：￥电议型 号：PROM产 地：其它
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PROMETHEUS10mm镜头色度计
PROMETHEUS 10mm镜头⾊度计在坚固的包装中提供了⾼速和准确颜⾊测量功能的独特组合。与其前辈相⽐，PROMETHEUS 10mm镜头色度计具有⾼度精确的过滤特性，并且与 hyper
价 格：￥电议型 号：PROMETHEUS产 地：欧洲
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VCProbe-NIR-STG光学视角检测仪—近红外光源测量
光学视角测试仪VCProbe-NIR-STG是为近红外中发光的DUT分析而优化的。光学视角测试仪VCProbe-NIR-STG的设计是为了精确测量泛光照明器件、立体成像、结构光照明器件的特性。光学视角测试仪VCProbe-NIR-STG是测量小孔径近红外源的理想工具，并为近红外源如LED和激光器提供了一个有效的测量解决方案。该系统可以在±70°视角锥内获得完整的地图，具有良好的角度分辨率。
价 格：￥电议型 号：VCProbe-NIR-STG产 地：其它
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MProbe 20 HC手持式膜厚测量仪
手持式膜厚测量仪-MProbe 20 HC（弯曲表面）基于MProbe 20 平台可以轻松测量曲面和大型零件的薄膜厚度，MProbe 20 具有专为单层和双层应用优化的数据分析算法。它还使用手动探针代替样品台。手动探头通过光纤电缆连接到测量单元。这为在任何位置的弯曲和大表面上测量厚度提供了灵活性。一些应用实例包括：抗紫外线和头灯，保险杠，尾灯盖的硬涂层等
价 格：￥电议型 号：MProbe 20 HC产 地：美洲
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MPROBE 70在线薄膜厚度实时测量仪
在线薄膜厚度实时测量仪-MPROBE 70是一种高性能厚度测量系统。在线薄膜厚度实时测量仪-MPROBE 70基于光谱反射率和/或透射率测量，专为产线的连续测量而设计。一些示例包括卷对卷生产中的卷材测量（薄膜和涂层的厚度）、建筑玻璃生产（反射率、透射率和颜色坐标）、轧制金属板（油或涂层厚度）等等。我们的厚度测量系统有效地测量薄膜和厚片，具有多层分辨力；透明、彩色和有色薄膜；有机或水性涂料和粘合剂。
价 格：￥电议型 号：MPROBE 70产 地：美洲
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MPROBE 60薄膜厚度均匀度测量系统
薄膜厚度均匀度测量系统-MPROBE 60（精确定位测量）$r$nMProbe 60 是一站式系统，专为研发中心和小型制造而设计。它结合了测量厚度/n&k 与自动化小点测量的能力。MProbe 60 已应用于研发纳米技术中心。可以快速可靠地测量 1 nm至 2 mm的厚度，包括多层薄膜堆叠。不同的MProbe 60 型号主要受光谱仪的波长范围和分辨率影响，进而决定了可测量的厚度范围。
价 格：￥电议型 号：MPROBE 60产 地：美洲
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MPROBE 50 INSITU原位薄膜厚度测量仪
原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU用于测量薄膜厚度和 n&k（光学常数）的实时光学测量仪。该系统可以在高环境光下工作，因为它使用门控数据采集。原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU使用高强度闪光氙灯在宽带 ( UV-NIR) 波长范围内进行精确测量。MProbe 50 系统是完全可定制的，以支持不同的真空室几何形状。
价 格：￥电议型 号：MPROBE 50 INSITU产 地：其它
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MPROBE 40 MSP微小区域薄膜厚度测量仪
MProbe 40 测量薄膜厚度和折射率单击鼠标在小地方。显微分光光度计 (MSP) 集成在系统中同时结合显微镜，用于小点薄膜厚度测量。微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP用于数千种应用程序，并提供完整的标准模型系列来支持它们。微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP可以快速可靠地测量 1 纳米到 2 毫米的厚度，包括多层薄膜堆叠。
价 格：￥电议型 号：MPROBE 40 MSP产 地：其它
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Moku :Pro锁相放大器
Moku Pro$r$nMoku Pro作为一款全功能信号控制及测量设备。Moku Pro同时具备九大功能：锁相放大器，任意波形发生器、频谱分析仪、数据记录器、示波器、相位计、PID控制器、频谱分析仪、波形发生器。Moku:Pro 的数字锁相放大器支持从 1 mHz 到 600 MHz 的双相解调 (XY/Rθ)超过 120 dB 的动态储备。 PID 控制器可以放置在锁相环应用的解调阶段之后。
价 格：￥电议型 号：Moku :Pro产 地：其它
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Moku:Pro任意波形发生器
Moku:Pro任意波形发生器描述$r$nMoku:Pro任意波形发生器的4通道任意波形发生器可以产生4种定制波形，高达65,536点，采样率从312.5 MSa/s到1.25 GSa/s。波形可以从文件或输入作为一个分段的数学函数多达32段，使您能够生成真正的任意波形。在突发模式下，Moku:Pro任意波形发生器波形产生可以从具有启动或n周期模式的输入通道触发。
价 格：￥电议型 号：Moku:Pro产 地：其它
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Moku:Pro数据记录仪
Moku:Pro数据记录仪描述$r$nMoku:Pro数据记录仪可以将数据记录到其120gb的内部固态硬盘上，采样率高达10msa /s。4路输入配置双10位和18位adc。使用混合ADC技术，输入噪声在100hz时降至30nv√Hz，提供从声学到射频频率的超低噪声数据记录。Moku:Pro数据记录仪还配备了一个10 MHz的时钟同步I/O，和四个500 MHz的输出，允许与其他电子设备灵活集成。
价 格：￥电议型 号：Moku:Pro产 地：其它
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Moku:Pro相位计
Moku:Pro的相位计描述$r$n Moku:Pro的相位计——Moku:Pro的相位计测量相位(相对于参考时钟)多达四个输入信号，从1 kHz到300 MHz的精度优于6 μ弧度。基于数字实现的锁相环架构，Moku:Pro的相位计提供了卓越的动态范围、零死区和测量精度，超过了传统锁相放大器和频率计数器的性能。
价 格：￥电议型 号：Moku:Pro产 地：其它
