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半导体参数分析仪RTM2-霍尔源测系统
昊量光电全新推出的半导体参数分析仪RTM2-霍尔源测系统。利用半导体参数分析仪RTM2的集成开关矩阵实现无限的精度和稳定性用于片状、霍尔和电阻张量的测量。
价 格：￥电议型 号：产 地：中国大陆
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面内热导率测试系统 AU-TRSD103
面内热导率测试系统 AU-TRSD103 基于“泵浦-探测”原理，结合了频域热反射、空间域热反射、稳态温升法、方脉冲热源法的优点，具有强大的热物性综合测试能力，能够测量从薄膜到块体材料的热导率、比热容和界面热阻。系统自动化程度高，操作简便，特别利于大批量快速测量。
价 格：￥电议型 号：产 地：中国大陆
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ARS宏观角分辨光谱系统
角分辨光谱仪具有在不同角度下探测材料光谱性质的能力，突破传统光谱技术不能分辨角度的局限，是获取光子材料色散关系，实现光学性质“全面表征”的重要手段，在微纳光子学、低维材料、发光材料等领域具有重要应用价值。
价 格：￥电议型 号：产 地：中国大陆
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空气轴承系统——ALIO纳米级高精度运动系统
ALIO Industries推出了6-D Nano Positioning®空气轴承运动系统，6-D指运动的6个维度；线性，直线度，平面度，俯仰，偏航和滚动。Nano Precision 指的是在 +/- 450 nm 水平或以下的性能证明文件。6-D Nano Precision® 是指在纳米级精度下运动的身体的所有 6 个自由度的性能证明文件。
价 格：￥电议型 号：产 地：美洲
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多通道LED校准光源LEDPanel
昊量光电多通道LED校准光源系统基于自主研发的核心算法，采用优选的几十种不同峰值波长的LED，实现出射光谱功率分布的可调，其主要应用为照明机构、物 体色视觉评价、相机及传感器的测试和校准，具体如日光模拟器、健康照明、 医疗照明、中间视觉、光的非生物效应、物体显色性、白度评价、农业照明。 灵活的安装方式可以按照客户要求定制大空间光环境照明光源。
价 格：￥电议型 号：产 地：中国大陆
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Oosight成像系统——纺锤体观察仪
Oosight成像系统采用核心的LC-PolScope™技术，能够提供一种特别的能力，可以在不使用外源性染料或标签的情况下，提供纺轴装置和三层透明带的高对比度定量图像。
价 格：￥电议型 号：产 地：中国大陆
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MHLS-永磁转子测量系统
昊量光电新推出MHLS-永磁转子测量系统，具有新开创性创新的传感器用于磁性元件和整个组件的高精度、快速和大面积表征。$r$n$r$n
价 格：￥电议型 号：产 地：中国大陆
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M-cat磁场均匀性检测系统
昊量光电蕞新推出M-cat磁场均匀性检测系统，可以快速精准的对溅射系统磁控管和磁棒的测量质量精准控制。旋转磁控管和可调磁棒可以在浮法玻璃镀膜的溅射过程中进行精确测量和分析及可靠地识别有缺陷的磁控管和磁棒。可以提高层厚的均匀性并且可以避免溅射。$r$n$r$n
价 格：￥电议型 号：产 地：中国大陆
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高精度振动控制和数据采集系统RL-C25
昊量光电全新推出的我们的高精度振动控制和数据采集系统RL-C25是目前市场上优质的振动台控制器，以简单易用、可靠、高安全标准由于其他控制系统。高精度振动控制和数据采集系统RL-C25是模块化、可叠加设计理念，8 到512 通道可选，根据用户需求确定，可升级、可扩展。
价 格：￥电议型 号：产 地：中国大陆
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ASOPS 成像系统/ 异步光采样 成像系统-neta Jax
ASOPS 成像系统/ 异步光采样成像系统-neta Jax产品特点：系统使用获得zuanli的光声技术设计无损测量系统。源自 CNRS 和波尔多大学的技术转让，它依靠激光、材料和声波之间的相互作用实验超精密材料物性，薄膜厚度检测系统使用无接触，无损光学测量。运用激光产生100GHz以上超高频段超声波，以此检测获得材料诸如厚度，附着力，界面热阻，热导率等。
价 格：￥电议型 号：产 地：其它
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WaveCam视频振动分析解决方案
WaveCam-视频振动分析解决方案:昊量光电全新推出的我们的振动分析解决方案WaveCam是时域和频域专家和初学者进行非接触式高分辨率振动测量的完美工具。首先，您只需要一台相机和我们的软件来处理数据。节省处理大量电缆和传感器或连续设置和测量单个测量位置的时间。每个像素都将用作单独的传感器，让您可以同时测量数十万个位置。
价 格：￥电议型 号：WaveCam产 地：其它
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M-axis永磁体特性测量系统
昊量光电新推出M-axis永磁体特性测量系统，M-axis永磁体特性测量系统的测量方法是基于永磁体材料的磁偶极子模型。从而测得除磁体的三维空间位置以外，永磁体的磁矩和磁化方向（磁偏角)。与赫尔姆霍茨线圈测量法比较，M-axis永磁体特性测量系统直接地确定感应磁场，而非磁通量变化量的积分因此测量中的磁体为静止不动的。与有效且可靠的分析软件一起，M-axis永磁体特性测量系统是您全检质量控制的首要选择
价 格：￥电议型 号：M-axis产 地：其它
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LEAsys非接触式超声波无损检测系统
奥地利Xarion公司非接触式超声波无损检测系统集成扫描仪解决方案将创新的 LEA 技术与高分辨率 xy 扫描仪和实时数据分析软件相结合。它无需水或耦合凝胶即可实现非接触式高分辨率扫描，是复合材料、金属和粘接接头无损检测的完美工具。
价 格：￥电议型 号：LEAsys产 地：中国大陆
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Toggel次世代荧光寿命成像相机/FLIM相机
次世代荧光寿命成像相机/FLIM相机：$r$n次世代荧光寿命成像相机/FLIM相机 — Lambert Instrument推出的Toggel是一款次世代荧光寿命成像相机/FLIM相机，它结合卓越的光灵敏度和易于获取的图像和数据分析等优点，简化了研究人员和成像中心的功能成像。$r$n
价 格：￥电议型 号：Toggel产 地：欧洲
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MPROBE 60薄膜厚度均匀度测量系统
薄膜厚度均匀度测量系统-MPROBE 60（精确定位测量）$r$nMProbe 60 是一站式系统，专为研发中心和小型制造而设计。它结合了测量厚度/n&k 与自动化小点测量的能力。MProbe 60 已应用于研发纳米技术中心。可以快速可靠地测量 1 nm至 2 mm的厚度，包括多层薄膜堆叠。不同的MProbe 60 型号主要受光谱仪的波长范围和分辨率影响，进而决定了可测量的厚度范围。
价 格：￥电议型 号：MPROBE 60产 地：美洲
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500-2050nm宽波段稳频激光系统
我们的500-2050nm宽波段稳频激光系统可以在室温的条件下实现<1 Hz 的线宽并且日频率漂移 <20 kHz，稳频激光系统的优异表现基于组装在超低漂移的支撑系统及真空室中的圆柱形腔体及高精细度反射镜。
价 格：￥电议型 号：500-2050nm产 地：其它
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液晶/电光激光功率稳定系统（Noise eater）
LPC液晶/电光激光功率稳定系统是集测量、调制和稳定激光束功率电路为一体的精密激光功率稳定系统。在这个系统中，它可以完成功率计、可变衰减器和激光强度稳定器的工作。长期（8小时）稳定性通常为0.03%（rms）
价 格：￥电议型 号：产 地：其它
