当前位置:易推广 > 上海昊量光电设备有限公司 > 产品展示
企业档案
会员类型:会员
已获得易推广信誉 等级评定
(0 -40)基础信誉积累,可浏览访问
(41-90)良好信誉积累,可接洽商谈
(91+ )优质信誉积累,可持续信赖
易推广会员:4年
最后认证时间:
注册号: 【已认证】
法人代表: 【已认证】
企业类型:经销商 【已认证】
注册资金:人民币万 【已认证】
产品数:975
参观次数:613137
光栅 | 晶体 | 基材
光栅 | 晶体 | 玻璃
光纤 | 光纤器件
磁学测量设备
连续激光器(CW)
光量测设备
激光护目镜
电子学测试仪器
X射线 | THz产品
调制器 | 偏转器 | 滤波器
ns | ps | fs 脉冲激光器
可调谐激光器 | 光源
角分辨散射仪
准分子激光器
透射式波前调制器
信号处理
光学器件
THz产品
冷原子/量子光学产品
脉冲激光器
光谱仪器
光学检测设备
激光量测设备
光纤
光栅光学晶体
材料分析设备
相机系列
显微成像系统及组件
光纤传感
其他专业应用
空间光调制产品
分析仪器
调制器滤波器
其它光谱仪
红外热成像仪
高光谱仪/高光谱成像仪
配色系统
光栅光谱仪(单色仪)
光纤光谱仪
色度仪
激光拉曼光谱(RAMAN)
色差仪、测色仪
光学计量仪器
其它测量/计量仪器
近红外光谱(NIR)
红外光谱(IR、傅立叶)
其它光学测量仪
光学仪器组件
激光产品
其它常用设备
光学平台
CCD相机/影像CCD
位移台 | 偏转镜 | 旋转台
金属浴/恒温金属浴/干式恒温器
其它相关仪表
-
LCRT-2005H-S光量测设备-雾度计
雾度计LCRT-2005H-S:1.雾度计LCRT-2005H-S由于采用了光谱监视器和亮度检测器,快速、准确。2.光谱测量(380 nm bis 780 nm)。3.环境光自动补偿。4.校准相机。5.雾度计LCRT-2005H-S 符合CIE 130和DIN 5036,雾度符合ASTM D1003−13,模拟A, C和D65。$r$n
价 格:¥电议型 号:LCRT-2005H-S产 地:欧洲
-
CinCam Pico超小尺寸光束分析仪
超小尺寸光束分析仪-CinCam Pico系列:$r$n德国Cinogy公司设计生产的CinCam系列的相机全部使用其独特卓立的‘CinCam’算法和技术,优化了UV至NIR波段的响应效率,包含CMOS/ccd/InGaAs相机。由于其高的分辨率和小的像素尺寸,‘CinCam’确保了在对连续和脉冲激光光束测量分析时的高准确度。其即插即用的设计保证了设备的易兼容性和操作的简易型。
价 格:¥电议型 号:CinCam Pico产 地:欧洲
-
X1-3紫外和蓝光危害测量仪
紫外和蓝光危害测量仪X1-3:来自人工光源和自然光源的光辐射可以在人的皮肤,眼睛产生光生物反应,如果过度曝光就会造成危害。就比如蓝光内容在显示设备和照明中的潜在影响一直是人们特别感兴趣和关注的话题,尤其是自从固态照明广泛引入以来。”蓝光危害”是指一种特定的光生物危害,与光化学诱导的眼睛内视网膜损伤的可能性有关(视网膜炎)。
价 格:¥电议型 号:X1-3产 地:欧洲
-
光腔衰荡光谱测量系统光腔衰荡光谱测量系统
光腔衰荡光谱方法通过对指数型的腔内衰荡信号的检测,摆脱了激光能量输出的起伏所引起的误差。由两片99.99% 反射率组成的光腔对损耗的测量精度可达ppm量级。
价 格:¥电议型 号:光腔衰荡光谱测量系统产 地:中国大陆
-
定量双折射成像系统定量双折射成像系统
CRI的Abrio成像系统提供了一种独特的方法来测量和分析样品中的微小量级双折射。用偏振光测量双折射率的空间分布的传统方法繁琐且耗时。Abrio技术通过自动化定量极化显微镜的过程,打开了双折射成像世界的大门,允许你精确地计算出每一个像素在几秒内的延迟幅度和方向
价 格:¥电议型 号:定量双折射成像系统产 地:中国大陆
-
无超高衍射效率全息光栅-(高灵敏度光谱仪用)
全息光栅即利用全息照相技术制作的光栅,相比传统刻划光栅其具有无鬼线、低杂散光、无像差,可制作任意尺寸的优点。光栅介质两侧被双层玻璃(无反射膜)覆盖,因此其为透射光栅,所用介质为具有理想性能的全息记录材料—重铬酸盐明胶(DCG),该介质偏振不敏感、高效率、宽带宽的特点成就了光栅具有同样的优异性能。衍射介质在体积内的设计则使其具有长寿命、易清洗、易操作,耐划伤的特点,AR镀膜则使其具有更低的能量损耗。
价 格:¥电议型 号:无产 地:中国大陆
-
脉冲测量分析仪FROG 超短脉冲测量分析仪
中红外FROG超短脉冲测量仪,能够覆盖传统超短脉冲测量仪无法测量的2000nm-3400nm中红外波长范围,最短测量脉宽12fs,并拥有高分辨率,动态范围达到75dB。
价 格:¥电议型 号:脉冲测量分析仪产 地:中国大陆
-
Aunion_Focus_Modules超小型亚微米自动聚焦模块(驱动电路内置)
AU-M3-F/FS自动聚焦模块是集成了微型压电马达、内置控制器、位移传感器和微处理器于一体的微机械模块。AU-M3-F/FS自动对焦模块在紧凑的空间中包含一个世界上最小的压电马达和IC驱动,但却可以提供更高的功率和可靠性,精度比电磁电机高十倍。采用独特的自锁设计,只有在移动时才使用动力。结合NSE-5310非接触式磁感应阵列位置传感器,在闭环行程中分辨率可达到0.5mm。此外该微自动聚焦模块无需外加控制器。平移台将PID控制器集成到电路板上,只需要通过标准的I2C 或者SPI接口输入简单的串行命令就可以驱动该控制器。
价 格:¥电议型 号:Aunion_Focus_Modules产 地:中国大陆
-
Magnetic_Observation_Microscope小型磁畴观察显微镜
该偏转镜子只需要简单的固定到偏转台上,可提供2毫弧度的偏转行程。在整个偏转行程中可达到亚微弧度的分辨率。低的移动质量和优异的控制系统可以提供极佳的响应时间和和速度。
价 格:¥电议型 号:Magnetic_Observation_Microscope产 地:中国大陆
-
Aunion_Piezo_Tip_Tilt_Mirror高速压电快速倾斜镜
AU-NPS-q-2A为qx偏转镜,该偏转镜的偏转行程为2毫弧度,分辨率可达到亚微弧度。封闭的封装可以提供更高的稳定性和可靠性。采用不锈钢材质,以及柔性铰链导向系统和优异的闭环控制系统使其拥有极快的响应速度和时间,响应时间小于1毫秒。自振频率在空载下可达到5000Hz。
价 格:¥电议型 号:Aunion_Piezo_Tip_Tilt_Mirror产 地:中国大陆
-
Aunion_Z_Nanopositioning_Stages单轴Z向压电扫描台/纳米平移台
AU-NPS-Z系列单轴压电扫描台采用压电陶瓷直推驱动,以柔性铰链为运动副,使其具有结构紧凑、体积小、无机械摩擦、定位分辨率高等优点。全行程采用电容位移传感器闭环反馈设计,精度可达到亚纳米量级。其前安装面可以与AU-NPS-XY-100A相结合,提供三维的定位控制。
价 格:¥电议型 号:Aunion_Z_Nanopositioning_Stages产 地:中国大陆
-
Aunion_X_Nanopositioning_Stages单轴压电扫描台/纳米平移台
价 格:¥电议型 号:Aunion_X_Nanopositioning_Stages产 地:中国大陆
-
Objective_Scanning_Mechanism物镜Z轴纳米扫描台(物镜聚焦扫描)
AU-OSM-Z系列单轴压电扫描台采用压电陶瓷直推驱动,以柔性铰链为运动副,使其具有结构紧凑、体积小、无机械摩擦、定位分辨率高等优点。全行程采用电容位移传感器闭环反馈设计,精度可达到亚纳米量级。采用革命性双传感器技术,这一尖端的控制技术与以往相比,可实现更快、更准确以及更稳定的显微镜物镜聚焦。 全新双传感器技术克服了传统纳米定位系统的限制,可提供更快的阶跃响应,提高有效载荷出现变化时的稳定性,并且显著增加自动显微术应用时的机械带宽
价 格:¥电议型 号:Objective_Scanning_Mechanism产 地:中国大陆
-
Nanopositioning_Stages亚纳米级三维扫描台
AU-NPS-XYZ系列纳米定位工作台采用压电陶瓷直推驱动,以柔性铰链为运动副,使其具有结构紧凑、体积小、无机械摩擦、定位分辨率高等优点。全行程采用电容位移传感器闭环反馈设计,使其达到纳米级的分辨率和重复性。结合数字闭环控制器,纳米定位工作台的响应时间和稳定时间可达到毫秒量级。灵活的模块化组合可以提供不同特点的三维微动台,满足不同类型的高分辨率的显微镜。
价 格:¥电议型 号:Nanopositioning_Stages产 地:中国大陆
-
Exicor-OIA非球面透镜应力双折射测量系统
利用光弹调制器技术,Hinds 公司的应力双折射测量系统可以在深紫外(193nm)波段进行应力双折射探测。 针对特定材料制作(氟化钙)和特定形状(非球面透镜)有着独家的技术解决方案。
价 格:¥电议型 号:Exicor-OIA产 地:中国大陆
-
Seebeck_Measurement_SystemsSeeback赛贝克效应测量系统
赛贝克(Seeback)效应测量系统是用来精确测量导电物质、金属、有机导体和半导体的赛贝克系数的仪器。该设备样品台附加在焦耳-汤姆逊制冷台上可以提供70K-730K的变温范围。拥有卓越的温度稳定系和重现性,分辨率可达到0.01K。拥有极高的赛贝克系数测量精度及稳定性,精度可达到50nV。易于测量两样品,测量样品包含金属或者是薄膜。
价 格:¥电议型 号:Seebeck_Measurement_Systems产 地:中国大陆
-
应力双折射测量仪150AT应力双折射测量系统
150AT 应力双折射系统是Hinds应力双折射测量系统家族系列产品。该应力双折射测量系统既可作为实验室科研探索测量光学组件应力分布测量,也可用作诸如玻璃面板,透镜,晶体,单晶硅/多晶硅、注塑成品等工业生产中检测产品应力分布。产品软件直观显示待测样品应力情况,便于操作和日常监测。
价 格:¥电议型 号:应力双折射测量仪产 地:中国大陆
-
AUT_Entangled_Photon_Source_EPS全光纤纠缠光子源
世界上第一款全光纤纠缠光子源ATU-EPS。纠缠源与光纤器件兼容,具有良好的模式纯度和高光谱亮度。光子对的发射率由计算机控制,标准产品的双光子干涉可见度>90%,如果添加外围制冷,双光子干涉可见度可达到98%。
价 格:¥电议型 号:AUT_Entangled_Photon_Source_EPS产 地:中国大陆
-
AUT_Correlated_Photon_Detection_System_纠缠光子对探测系统(1.25GHz,符合计数系统)
ATU-CPDS纠缠光子对探测系统集成了4个 GHz门控探测器及测量每个探测器的独立输出及相关性的电路模块。纠缠光子对探测系统是测量全光纤纠缠光子分配,其内置的延迟处理器可以补偿因光纤长度不 同导致的信号光与闲频光的延迟。纠缠光子对探测系统还可以储存探测器原始数据,生成4路输出信号响应检测特定的可编程的探测器的相关性,允许前置条件量子 态检测。纠缠光子对探测系统系统工作在通信波段(1200nm-1600nm),触发频率可达1.25GHz。
价 格:¥电议型 号:AUT_Correlated_Photon_Detection_System_产 地:中国大陆