您的位置:易推广 > 分析仪器 > 光谱仪器 > X荧光光谱仪 > 江苏天瑞仪器股份有限公司 > 产品展示 > 元素分析仪 > 矿石矿渣尾矿成分分析仪#多晶硅工业硅分析仪#金属成分分析仪

产品展示

矿石矿渣尾矿成分分析仪#多晶硅工业硅分析仪#金属成分分析仪

点击次数:376发布时间:2019/12/14 19:43:11

矿石矿渣尾矿成分分析仪#多晶硅工业硅分析仪#金属成分分析仪

更新日期:2023/5/24 16:09:33

所 在 地:中国大陆

产品型号:EDX4500

简单介绍:能快速对矿石矿渣尾矿、多晶硅工业硅以及其他材料进行成分分析仪。

优质供应

详细内容

 性能参数

产品型号:EDX 4500
产品名称:X荧光光谱仪
测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)
元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同)
同时分析元素:次性可测几十种元素
测量时间:60秒-200秒
探测器能量分辨率为:145±5eV
管压:5KV-50KV
管流:50μA-1000μA
测量对象状态:粉末、固体、液体
输入电压:AC 110V/220V
环境温度:15℃-30℃
环境湿度:35%-70%
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
样品腔体积:Φ320mm×100mm
重量:65Kg

性能特点

超薄窗X光管,指标达到际水平
新的数字多道技术,让测试更快,计数率达到100000CPS,精度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比
低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置了仪器工作的致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解,使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)目了然

标准配置

超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
钢铁行业测试专用配件
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安保护模式
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
整体钢架结构,力度的
90mm×70mm的液晶屏
真空泵

联系我们

联系人:马女士

点击查看联系方式

企业档案

  • 会员类型:免费会员
  • 工商认证: 【已认证】
  • 最后认证时间:
  • 法人:
  • 注册号:
  • 企业类型:生产商
  • 注册资金:人民币46176万

script>
在线咨询

提交