CAMTEK  自动光学检验AOI设备 三维集成电路-功能特点有哪些？ http://www.app17.com/c149799/products/d11200193.html

CAMTEK  自动光学检验AOI设备 三维集成电路

Camtek灵活平台利用各种技术解决的复杂步骤3 dic发展和生产的需要。
我们完全自动化的2 d和3 d测量和缺陷检测能力覆盖 的产业需求解决产业路线图。
该系统包括数据分析工具使过程监控和产量的提高。

Camtek是一个  的开发商和制造商的半导体行业检验和计量设备。Camtek的系统检查和测量晶圆半导体器件的整个生产过程,包括道和封装,和组装的检测。Camtek系统检查晶片是 苛刻的半导体市场,包括互连包装、内存、CMOS图像传感器、微机电系统和射频,服务行业  的  IDMs OSATs和铸造厂。

性能：Camtek检验和计量系统可以在高通量检测有缺陷的ICs可靠,确保只有known-good-die交付给客户的 终产品。的包装技术的增长,已被证明是 有效的解决方案的高端产品,Camtek提供了各种检验和计量技术,可以根据客户的需求快速   地帮助他们满足 严格的要求没有缺陷的产品以及支持需求增长和投放市场的时间。

创新：Camtek创新使得它的技术导人检验和计量在半导体域的细分市场服务,通过交付解决方案,已成为许多应用的行业标准。 获胜的结合性能和灵活性与易操作和可靠性,为客户提供 佳的资本投资。

 

响应性：本地团队在每一个域是完全独立的,能够安装系统,添加新功能和提供所需的全方位的服务我们的客户。精益组织结构使快速反应引起行业需求和挑战。 Camtek软件,模块化的体系结构的系统可以解决独特的客户需求的高度定制,同时提供简单和具有成本效益的域升包安装设备。

 

功能

•高容量整片肿块2 d和3 d检查和计量
•层厚度测量
•调整层之间
•覆盖测量
•高分辨率CD测量
•表面相关缺陷检查
•TSV CD测量
•通过了检验
•通过揭示/指甲高度和co-planarity测量
•RDL检验和计量

技术

•Camtek独特的白光三角测量传感器
•的缺陷检测和计量处理引擎
•高分辨率三维共焦传感器
•光干涉测量技术对3 d

 

产品

 

Eagle-AP

Eagle-AP提供2 d和3 d检验和计量在同一平台上,同时保持高的性能和吞吐量水平。

 

EagleT-AP

为的包装设计市场,EagleT-AP提供了2 d和3 d检验和计量在同一平台上,同时保持高的性能和吞吐量水平。

原创作者：北京亚科晨旭科技有限公司