CAMTEK  自动光学检验AOI设备功能特点你知道吗？ http://www.app17.com/c149799/products/d11200190.html

CAMTEK  自动光学检验AOI设备 在 碳化硅(SiC) 域的应用

碳化硅碳化硅晶片是未来一代半导体材料,具有独特的电学性能和优异的热性能。 与硅片和砷化镓晶片相比,碳化硅晶片更适合高温和高功率设备应用程序。
Camtek开发用的检验和计量解决方案,以及分析工具来解决这一新兴市场。

Camtek是一个  的开发商和制造商的半导体行业检验和计量设备。Camtek的系统检查和测量晶圆半导体器件的整个生产过程,包括道和封装,和组装的检测。Camtek系统检查晶片是 苛刻的半导体市场,包括互连包装、内存、CMOS图像传感器、微机电系统和射频,服务行业  的  IDMs OSATs和铸造厂。

性能：Camtek检验和计量系统可以在高通量检测有缺陷的ICs可靠,确保只有known-good-die交付给客户的 终产品。的包装技术的增长,已被证明是 有效的解决方案的高端产品,Camtek提供了各种检验和计量技术,可以根据客户的需求快速   地帮助他们满足 严格的要求没有缺陷的产品以及支持需求增长和投放市场的时间。

创新：Camtek创新使得它的技术导人检验和计量在半导体域的细分市场服务,通过交付解决方案,已成为许多应用的行业标准。 获胜的结合性能和灵活性与易操作和可靠性,为客户提供 佳的资本投资。

响应性：本地团队在每一个域是完全独立的,能够安装系统,添加新功能和提供所需的全方位的服务我们的客户。精益组织结构使快速反应引起行业需求和挑战。 Camtek软件,模块化的体系结构的系统可以解决独特的客户需求的高度定制,同时提供简单和具有成本效益的域升包安装设备。

功能

•处理透明材料区域使用黑暗查克在晶片上
•背光查克的早期阶段的过程
•朋友处理透明的晶片
•eef——边缘控制能力
•自动缺陷分类(ADC)基于收益管理的深度学习
•弓测量
&bull;预测收益率-晶圆缺陷位置精度< 2um

技术

&bull;sts -表面形貌传感器
&bull;背光

 

产品

 

EagleT-AP

为的包装设计市场,EagleT-AP提供了2 d和3 d检验和计量在同一平台上,同时保持高的性能和吞吐量水平。

 

EagleT-i

设计的速度和准确性,Camtek EagleT-i是一个 快的和 精确的2 d检查工具在市场上。

原创作者：北京亚科晨旭科技有限公司