探针式表面轮廓仪

布鲁克探针式表面轮廓仪（又称“台阶仪”）历四十载，积累大量技术。从传统的二维表面粗糙度和台阶高度测量，到更高的三维表面成像和薄膜应力测试，Dektak台阶仪适用面广，为用户提供准确性，重复性的测量结果。

DektakXT

桌面型探针式表面轮廓仪

布鲁克DektakXT®台阶仪设计创新，实现了高的重复性和分辨率，垂直高度重复性高达4埃。这项测量性能的提高，达到了过去四十年Dektak®体系技术的峰，更加稳固了其行业中。不论应用于研发还是产品测量，在研究工作中的广泛使用是的DektakXT功能，操作更简便易行，检测过程和数据采集也完善。技术的突破也实现了纳米尺度的表面轮廓测量，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二管的研发以及材料科学域。

探针式轮廓仪的黄金标准

DektakXT®探针式轮廓仪革命性的突破设计创新，实现了垂直高度重复性高达4埃，数据采集能力提高了40%。这一里程碑的创新和突破，使得DektakXT实现了纳米尺度的表面轮廓测量，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二管的研发以及材料科学域。