Bruker三维光学表面轮廓仪-ContourGT-X3/X8

ContourGT-K是非接触表面表征和成像域超过三十年有光学和行业。 ContourGT系列基于Wyko®技术构建，具有大的算法和结构设计，使布鲁克成为可靠测量的 。发货，每个单元都经过我们美国工厂的严格认证。除其他规格外，还对它们进行了测试，使其均方根（RMS）重现性<0.03nm或更高，步长1 sigma重现性<0.1％。

 
原理：

利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动，而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起，所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量，从而测得与此有关的其他物理量。测量jing度决定于测量光程差的jing度，干涉条纹每移动一个条纹间距，光程差就改变一个波长(～10-7米)，所以干涉仪是以光波波长为单位测量光程差的，其测量jing度之高是任何其他测量方法所无法比拟的。

应用：

    对关键尺寸的测量十分便捷，广泛应用于科研以及半导体行业；LED行业、太阳能行业、触摸屏行业及数据存储行业等，提供非接触式测量方案，样品从小至微米别的微机电器件（MEMS、化合物半导体等），大到整个引擎部件，都可以获得表面形貌、粗糙度、三维轮廓等数据。