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平面自动位移透过率检测仪
点击次数：256发布时间：2019/11/26 9:43:23
更新日期：2021/8/10 9:33:01
所 在 地：中国大陆
产品型号：BCSP
优质供应
详细内容
一、仪器介绍：
平面自动位移透过率检测仪由北创光电科技自行设计研发，产品核心部件使用美国及荷兰进口。目前越来越多的光学元件对透过率的要求越来越高，部分元件在加工过程中甚至要全检透过率来控制产品品质。全自动位移透过率检测仪是一套专门为检测光学组件透过率而设计开发的，实现自动位移快速准确检测各类平面器件的透过率。可实时显示单、多点波长透过率数据和波段平均透过率的值和小值等数据。
主要特点如下：
1、显微测定微小区域的反射率 物镜对焦于被测物微小区域φ0.3mm；
2、cie颜色测定 x y色度图，x，y，l,a,b饱和度，主波长等；
3、检测速度快 高性能探测器，可在1秒内实现标定范围内全波长的测定；
4、具有3轴控制，x轴400mm,y轴300mm，z轴200mm，其中x/y轴是自动轴，z轴是手动轴；
5.适用于玻璃尺寸360*460透过率的检测平面度φ30um
6、强大的玻璃数据库及数据管理功能 轻松实现数据分析、存储、调用、打印等等功能；
7、自主开发软件，满足不同功能需求。
8、仪器售后保修一年，可协助客户进行膜系设计及工艺开发。
