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点击次数：192 发布时间：2022/3/16

ELA 是我们用于电子能量损失谱 (EELS) 和四维扫描透射电子显微镜 (4D STEM) 应用的电子计数检测器。它可以检测弱反射和强反射，以实现高衍射和成像研究，并允许快速元素映射。该探测器集成在 Gatan 4D-STEM 中。

简介	ELA 是我们用于电子能量损失谱 (EELS) 和四维扫描透射电子显微镜 (4D STEM) 应用的电子计数检测器。它可以检测弱反射和强反射，以实现高衍射和成像研究，并允许快速元素映射。该探测器集成在 Gatan 4D-STEM 中。
像素尺寸 [μm2]	75x75
传感器材料	硅 (Si)
能量范围 [keV]	30 - 200
帧速率 (大) [Hz]	2,250 (16-bit); 4,500 (8-bit)
探测光子效率	0.9 at 100 kV, 0.8 at 200 kV
核心优势	这种混合像素电子探测器快速而灵敏，能够在电子能量损失光谱 (EELS) 和 4D 扫描透射电子显微镜 (STEM) 中进行数据收集。
应用域	-电子能量损失谱（EELS） -4D STEM
介绍手册	点击阅读 ELA 介绍手册

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