半导体分立器件主要包括二管(Diode)、三管(BJT)、晶闸管(SCR)、场效应晶体管(MOSFET)、绝缘栅双性晶体管(IGBT)等产品,半导体特性曲线分析仪+IV测试仪认准生产厂家武汉普赛斯仪表，详询一八一四零六六三四七六；普赛斯五合一高精度数字源表（SMU）可为高校科研工作者、器件测试工程师及功率模块设计工程师提供测量所需的工具，接线简单、方便操作

半导体特性曲线分析仪+IV测试仪扫描曲线图：

利用数字源表简化半导体分立器件特性参数测试

丰富的半导体IV特性测试行业经验；

全面的解决方案：二管、MOSFET、BJT、IGBT、二管电阻器及晶闸管等；

提供适当的电缆辅件和测试夹具……

普赛斯S系列数字源表优点：

同时精确提供和测量电压和/或电流；

     同步测量，减少测试时间

提供和测量非常广的电流和电压；

      电压测试范围30uV-300V,电流测试范围1pA-1A

支持运行用户脚本程序，无需电脑控制，提高生产测试速度；

     序列测试，简化操作，降低成本

采用用户熟悉的图形界面，不管用户经验是否丰富，使用起来都非常简便；

     触屏操作

 
与传统电源比：

电源过零需要改变线连接方式；

      增加需反复开关机械开关，降低了设备可靠性

电压电流限制精度有限；

电压1%，电流10mA

与电源结合万用表组合比：

万用表电源组合需要编程实现设备控制及同步；

     复杂连线、编程开发

电源限压限流性能差

       限压限流精度低，瞬态特性也无法保证

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