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半导体器件测试源表+IV测量源表

点击次数:133发布时间:2020/1/3 8:53:08

半导体器件测试源表+IV测量源表

更新日期:2024/11/26 10:14:33

所 在 地:中国大陆

产品型号:S型

简单介绍:普赛斯仪表S系列源表同时精确提供测量电压和电流,减少了测试时间。如果被测设备实际电压值或者电流值达到了用户设置的限制值,那么电压或者电流会被精确的限制住,避免了对被测设备造成损坏。

优质供应

详细内容

 传统的万用表-电源组合方式需要编程实现设备控制及同步,这种组合的开发建立和维护都需要时间,而且购买整体成本高。普赛斯源表不需要这种多台仪器相关复杂同步连接问题,简化了测试本身,提升了测试效率。而且源及测量的准确度为0.1%,分辨率5数位,测量结果比传统方式更精确。

把简单带给用户

源表 = 高精度双性可编程电源 + 高精度双性可编程电子负载 + 数字万用表,可以简化复杂的 IV 测量任务,用于创建快速、功能强大的电子器件测试和测量系统。

源表同时精确提供测量电压和电流,减少了测试时间。如果被测设备实际电压值或者电流值达到了用户设置的限制值,那么电压或者电流会被精确的限制住,避免了对被测设备造成损坏。

S
系列源表让复杂测量变得简单

在进行 IV 测量时,如果使用常规仪器比如电压/电流源、开关和万用表,那么测量过程将会非常复杂和耗时。用户必须精通测量方法和仪器方面的技术知识,才能实现精准的测量。

S系列源表支持四象限工作,既能担当精密性电压/电流源(源模式),又能充当电气负载被动吸收流入的电流(肼模式),而且支持丰富的扫描模式(线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描),能够执行从直流到低频交流的各种测量,而无需更改连接或使用其他设备。

S系列让复杂测量变得高效

源表的输出电压(±300V)、电流范围远大于常规电源,测试不同功率大小的待测器件(DUT)基本不用更换设备,其次源表在小电流测试时也具有很高的精度,暗电流测试准确,而高精度的电流测试万用表价格也是比较高的,再次多台源表间可以互联触发,支持自动序列测试,测试速度快。

S系列内置有扫描功能,支持丰富的扫描模式,用户从仪器面板上便可快速进行扫描测量并显示扫描结果。综合的扫描测量功能可以显著提高效率并缩短测量设置时间。

S系列还内置强大的功能软件,如LIVPIV,加速用户完成测试。

四象限工作现精确的低电阻测量

当测量小电阻时,引线自身的电阻会造成严重的测量误差。为解决这一问题,S系列支持 4 线(也称为开尔文法)测量功能。在 4 线方案中,两个连接器输入电流,另外两个连接器测量电压。在这种配置下,迫使测试电流(I)经过一套测试引线流过被测电阻(R);而待测器件(DUT)两端电压则是通过称为检测引线的第二套引线来测量的。电压检测端为高阻输入,检测引线中电流一般为pA,同时由于导线电阻很小,引线上的压降可以忽略不计,因此采用四线模式可以精确的测量被测器件上的实际电压。

创新的 GUI 5寸触摸显示屏方便用户使用台式仪器执行测试、调试和表征

S系列的面板具有多种功能特性,可以快速简便地进行交互式操作。这些特性包括5800*480触摸显示屏、USB存储器I/O 端口、快捷键和旋钮。触摸屏支持全图形化操作,使用户可以快速进行测试设置和检查测试结果。USB存储器端口使数据存储和转移变得十分方便。创新的图形用户界面大改善了使用台式仪器进行测试、调试和表征的易用性和效率。

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  • 企业类型:生产商
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