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半导体封装推拉力测试机铝线拉力测试,微焊点推力测试,芯片推力测试

点击次数:13发布时间:2023/11/11 16:16:37

半导体封装推拉力测试机铝线拉力测试,微焊点推力测试,芯片推力测试

更新日期:2023/11/15 20:36:30

所 在 地:中国大陆

产品型号:TEST2000

简单介绍:旋转式模组:旋转盘内置三个不同量程测试传感器模组,满足不同测试需求。

优质供应

详细内容

半导体封装推拉力测试机是一种用于测试半导体封装的推拉力和剪切力的设备。
它可以测试铝线拉力、微焊点推力和芯片推力等参数。例如,旭日鹏程TEST2000芯片推拉力测试机适用于半导体IC封装推拉力测试,晶片推力测试,微焊点剪切力试验。

TEST系列推拉力测试机,技术参数对标进口设备,以综合测试、稳定的特点赢的海内外客户的信任。
高清三目显微镜配CCD,可以在PC显示屏上观看测试过程及结果;
校准采用国标砝码校准方法,校准数据可于第三方检测;
推刀钩针采用钨钢材料制作而成,材质好,耐用性强;
采用自主研发软件,自带M,E,S、CPK、校正、重复性测试功能
每个传感器模组都采用单独智能防呆滞的防触底/碰撞过力保护功能,触底时自动停止并弹窗提醒。

采用国家标准的校准方法:砝码校准,以保证设备校正数据的可靠性。
软件自带校准、重复性测试、线性测试功能;砝码满足国家标准,可于第三方检测。
校正数据保存在测试电脑中,可导出Excel表格、打印,供用户查验。

1,独立自主研发
多年半导体行业资深工作经历的研发团队,以客户需求为导向。
2,测试传感器自动更换
只用在软件上对测试工作位进行选项后,设备自动旋转至选择工作位。
3,高精度动态采集系统
公司自主研发高精度数据采集系统,将传感器与数据采集结合,测试数据更加综合测试。
4,高精密动态传感系统
采用独特的高精度动态传感系统与高速数据采集系统完美结合,给客户带来更好的测试视觉体验。
5,人性化的软件设计
可根据测试需求自由编缉测试方式,推力测试,拉力测试,下压力测试等。
6,防呆滞保护措施
自主研发的防呆滞的智能保护措施,防止因人员误操作对设备进行损伤。

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企业档案

  • 会员类型:免费会员
  • 工商认证: 【未认证】
  • 最后认证时间:
  • 法人:
  • 注册号:
  • 企业类型:生产商
  • 注册资金:人民币万

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