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涡流阵列技术（ECA）以电子方式驱动同一个探头中多个相邻的涡流感应线圈，并解读来自这些感应线圈的信号。通过使用多路技术采集数据， 可避免不同线圈之间的互感。
OmniScan® ECA检测配置在桥式或发射-接收模式下可支持32个感应线圈（使用外部多路器可支持的感应线圈多达64个）。操作频率范围为20 Hz～6 MHz，并能选择在同一采集中使用多频。
OmniScan® ECA检测配置在桥式或发射-接收模式下可支持32个感应线圈（使用外部多路器可支持的感应线圈多达64个）。操作频率范围为20 Hz～6 MHz，并能选择在同一采集中使用多频。
涡流阵列的优势
同单通道涡流技术相比，涡流阵列技术具有下列优势：
同单通道涡流技术相比，涡流阵列技术具有下列优势：
· 检测时间大幅度降低。
· 单次扫查覆盖更大检测区域。
· 减小了机械和自动扫查系统的复杂性。
· 提供检测区域实时图像，便于数据的判读。
· 很好地适用于对那些具有复杂几何形状的部件的检测。
· 改进了检测的可靠性和检出率（POD）。
涡流阵列探头
Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探头可适用于广泛的应用领域。根据缺陷的不同类型或者被测工件的形状，可以设计出不同的探头。标准探头可检测如裂纹、点蚀等缺陷，以及多层结构中如裂纹及腐蚀等近表面的缺陷。
Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探头可适用于广泛的应用领域。根据缺陷的不同类型或者被测工件的形状，可以设计出不同的探头。标准探头可检测如裂纹、点蚀等缺陷，以及多层结构中如裂纹及腐蚀等近表面的缺陷。
涡流阵列软件
简单的数据采集和分析显示
采集模式显示分析模式显示
C扫描视图中的数据采集，可快速有效地检测缺陷。
分析模式下的数据选择，可在阻抗图和带状图中浏览信号。
波幅、相位和位置测量。
可调彩色调色板。
大尺寸阻抗平面图和带状视图，与常规单通道ECT探头检测相适应。
校准向导
分步进行。
一组中的所有通道可被同时校准，每个通道各有自己的增益和旋转。
波幅和相位可以根据不同的参考缺陷设定。
报警
3个报警输出可将指示灯、蜂鸣器和TTL输出组合到一起。
可以在阻抗图中定义不同的报警区形状（扇形、长方形、环形等）。
自动探头识别和配置
探头被连接后，C扫描参数和多路器的顺序即可被自动设置。
频率范围保护可避免损坏探头。
分析模式下的求差工具
该功能可去除在相邻通道间的提离变化。
高级实时数据处理
采集模式显示分析模式显示
实时数据插值可以改进缺陷的空间显示。
使用两个频率，可生成一个MIX信号，以去除干扰信号（如：提离、紧固件信号等）。
数据处理可以选用高通、低通、中值和平均滤波器。下图为一个应用实例：在搭接处边缘检测出裂，因为该处厚度出现急剧的变化。经滤波的数据可以改进检测效果，特别是对小裂纹而言。
高级复合材料检测
Olympus推出了一款新开发的粘接检测OmniScan解决方案：这无疑是复合材料检测行业中的一大进步。如今，使用便携式仪器获得易于判读的C扫描图像已经成为现实。这款OmniScan解决方案不仅可完美地适用于蜂窝结构复合材料的脱胶检测，还可以进行分层检测，且结果的精确程度与脱胶检测相比丝毫不差。虽然这个解决方案主要为航空航天工业的在役检测而设计，但是在包括汽车和船舶工业在内的制造业中也非常有用，如：针对复合材料船体的检测。
已经拥有了OmniScan ECA或ECT模块的用户只需订购标准的BondMaster探头（P14和SPO-5629）及BondMaster线缆，就可以使用这个解决方案完成检测应用。
我们特别为复合材料的检测开发定制了MXB软件。其新添的功能，如：向导和标准化，有助于保持操作的简洁性。
编码系统：可以使用任何双轴编码扫查器检测工件。Olympus提供两个选项：一个是可极好地适用于扫查平面或稍有弯曲表面的GLIDER扫查器；另一个是WING扫查器，这款扫查器专门为扫查曲面工件而设计（如：航天飞机的机身），而且因其具有Venturi真空吸盘系统，甚至可以倒置进行操作。此外，装有步进点击器的手持式单轴编码扫查器也可以与这个系统兼容，从而加强了系统的多用性。
Olympus又一次创新了在屏幕上显示数据的方法。针对每个C扫描，操作人员可以有两个视图选择：一种是波幅C扫描，不会考虑相位情况，只基于信号的波幅而显示不同的颜色，这是一个可清晰、有效地探测脱胶缺陷的理想视图。另一种是相位C扫描，使用0°到360°的彩色调色板显示相位角的变化，有助于轻松辨别不同类型的缺陷指示，如：油灰填塞（修补）缺陷或分层缺陷。
