仪器简介：

XD镀层测厚仪是一款专用于检测各种异形件，特别适用于五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。

该系列仪器不但可以应对平面、微小样品的检测，在面对凹槽曲面深度0-90mm以内的异形件具备巨大的优势。

被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

产品优势：

• 的EFP算法：多层多元素、各种元素及有机物，甚至有同种元素在不同层也可测量

• 上照式设计：实现可对超大工件进行快、准、稳率测量

• 自动对焦：高低大小样品可快速清晰对焦

• 变焦装置算法：可对0-90mm深度的凹槽高低落差件直接检测

• 小面积测量：*小测量面积0.002mm2

• 可编程自动位移：选配自动平台，X210*Y230*Z145mm行程内无人值守自动测量

广泛用于镀层厚度的测量、电镀液浓度的测量。

X荧光光谱测厚仪是能谱分析方法，属于物理分析方法。样品在受到X射线照射时，其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自的特征X射线，不同的元素有不同的特征X射线；探测器探测到这些特征X射线后，将其光信号转变为模拟电信号；经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理；计算机的特殊应用软件根据获取的谱峰信息，通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的种类及各元素的镀层厚度。

它能检测出常见金属镀层厚度，无需样品预处理；分析时间短，仅为数十秒，即可分析出各金属镀层的厚度；分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm。

镀层测厚仪XRFXD-1000

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

镀层测厚仪XRFXD-1000应用

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。