镀金厚度膜厚测试仪XD-1000性能特点

镀金厚度膜厚测试仪 采用高度定位激光，可自动定位测试高度

定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏感性传感器保护

镀金厚度膜厚测试仪XD-1000参数规格

相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序

度适应范围为15℃至30℃。
型号：XD-1000

元素分析范围从硫(S)到铀（U）。

镀金厚度膜厚测试仪同时可以分析30种以上元素，五层镀层。

分析含量一般为ppm到99.9% 。

镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）

任意多个可选择的分析和识别模型。

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：100kg

产品用途

镀金厚度膜厚测试仪广泛应用于线路板、电子连接器、电子电器、螺栓和螺母、卫浴、五金端子板材、表面处理材料、汽车配件、五金工具、弹簧、螺丝、半导体封装材料等产品。

配件

开放式样品腔。

高低压电源。

高度传感器

保护传感器

计算机及喷墨打印机
双激光定位装置。

铅玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探测器。

信号检测电子电路。