仪器简介：

XD镀层测厚仪是一款专用于检测各种异形件，特别适用于五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。

该系列仪器不但可以应对平面、微小样品的检测，在面对凹槽曲面深度0-90mm以内的异形件具备巨大的优势。

被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

产品优势：

• 的EFP算法：多层多元素、各种元素及有机物，甚至有同种元素在不同层也可测量

• 上照式设计：实现可对超大工件进行快、准、稳率测量

• 自动对焦：高低大小样品可快速清晰对焦

• 变焦装置算法：可对0-90mm深度的凹槽高低落差件直接检测

• 小面积测量：*小测量面积0.002mm2

• 可编程自动位移：选配自动平台，X210*Y230*Z145mm行程内无人值守自动测量

XD-1000XRF膜厚测试仪器技术指标

xrf膜厚测试仪器多变量非线性回收程序

度适应范围为15℃至30℃。

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

型号：XD-1000

元素分析范围从硫(S)到铀（U）。

同时可以分析30种以上元素，五层镀层。

分析含量一般为ppm到99.9% 。

镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：100kg

XD-1000XRF膜厚测试仪器性能特点

xrf膜厚测试仪器定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏感性传感器保护

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自动定位测试高度

应用领域

XRF膜厚测试仪应用于金属镀层的厚度（镀银、镀金、镀镍、镀锌、镀铬、镀钯等）测量、电镀液和镀层含量的测定,端子连接器、LED、半导体、卫浴洁具、PCB、电子电器、气配五金、珠宝首饰、汽车配件、制冷设备、检测机构以及研究所和高等院校等卫浴等行业。

标准配置

xrf膜厚测试仪器开放式样品腔，满足大样品测试

精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。

双激光定位装置。

铅玻璃屏蔽罩。

信号检测电子电路。

高低压电源。

高度传感器

保护传感器

计算机及喷墨打印机（可以保存和实时打印）