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晶圆/硅片划遗线检测/统计Slip Finder
点击次数：195发布时间：2020/5/22 9:54:39
更新日期：2020/5/22 9:54:39
所 在 地：
产品型号：YIS-200SP/YIS-300SP/YIS-200HM/YIS-300HM
相关标签：晶圆/硅片划遗线检测/统计Slip Finder
优质供应
详细内容
晶圆/硅片划遗线检测/统计slip finder广泛应用于各大半导体FAB，主要用于如下一些热处理工艺后的晶圆/硅片：
Polishing, Epitaxy, RTP, Diffusion, Incoming Inspection, SOI, Anneal
部分客户参考如下：
国内主要大客户有如：中芯，半导体，华宏半导体，成都德州仪器等等。
MEMC
S.E.H
SUMCO
IBM
KOMATSU
LG
OKMETIC
MAXIM
PHILIPS
MOTOROLA
DISCO
MITSUBISHI
TOSHIBA
SAMSUNG
SONY
ST MICRO
TEXAS INSTRUMENTS
HITACHI
IBIS
...
中国地区销售服务商
美国赛伦科技上海办事处
吴惟雨
138 1791 5874
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