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KSI V-700E 超声波扫描显微镜

点击次数:95发布时间:2020/5/29 10:56:15

KSI V-700E 超声波扫描显微镜

更新日期:2020/5/29 10:56:15

所 在 地:

产品型号:KSI V-700E

简单介绍:超声波扫描显微镜的应用领域:半导体电子行业:半导体晶圆片、封装器件、大功率器件IGBT、红外器件、光电传感器件、SMT贴片器件、MEMS等;材料行业:复合材料、镀膜、电镀、注塑、合金、超导材料、陶瓷、金属焊接、摩擦界面等;生物医学:活体细胞动态研究、骨骼、血管的研究等

优质供应

详细内容

超声波扫描显微镜,超声扫描显微镜,超声C扫描显微镜,声扫显微镜

德国原装进口,更多型号请登录安赛斯(中国)有限公司官网,

www.analysis-tech.com




产品介绍:

名称:超声波扫描显微镜

品牌:KSI

型号:V-700E

产地德国

应用:晶圆面处分层缺陷;锡球、晶圆、或填胶中的开裂;晶圆的倾斜;各种可能之孔洞(晶圆接合面、锡球、填胶等)

 

应用:

超声波扫描显微镜的应用领域:

  • 半导体电子行业:半导体晶圆片、封装器件、大功率器件IGBT、红外器件、光电传感器件、SMT贴片器件、MEMS;

  • 材料行业:复合材料、镀膜、电镀、注塑、合金、超导材料、陶瓷、金属焊接、摩擦界面等;

  • 生物医学:活体细胞动态研究、骨骼、血管的研究等

超声波扫描显微镜在失效分析中的应用:

  • 晶圆面处分层缺陷

  • 锡球、晶圆、或填胶中的开裂

  • 晶圆的倾斜

  • 各种可能之孔洞(晶圆接合面、锡球、填胶等)

超声波显微镜的在失效分析中的优势:

  • 非破坏性、无损检测材料或IC芯片内部结构

  • 可分层扫描、多层扫描

  • 实施、直观的图像及分析

  • 缺陷的测量及缺陷面积和数量统计

  • 可显示材料内部的三维图像

  • 对人体是没有伤害的

  • 可检测各种缺陷(裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞等)

 

 

主要参数:

  • - 该型号超声波扫描显微镜分析系统,用于检测大件样品

  • - 扫描速度:2000 mm/s

  • - 与其它品牌相比扫描效率高30%

  • - 扫描范围:700mm×600mm

  • - *小扫描范围:200μm×200μm

  • - 带宽:550MHz

  • - 放大倍数:625

  • - 新型FCT换能器

 

咨询或索取详细产品资料,请联系ANALYSIS(安赛斯)工作人员。


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  • 会员类型:免费会员
  • 工商认证: 【未认证】
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  • 企业类型:个体商户
  • 注册资金:人民币万

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