RTM-VA全角度光谱测量台

材料中的很多成份，以不同角度入射，得到的透射率和反射率会发生变化。通过测量不同角度入射，研究材料的*敏感角度，为进一步研究或设计测量仪器提供依据。

RTM-VA全角度光谱测量台可以搭配光谱仪、光源及其他测量附件，可以对材料进行不同角度入射和接收的光谱测量，适用于各种表面平整的样品光谱测量。采用电控独立双轴设计，高精度步进电机控制发射端和接收端的角度，角度分辨率0.05°。光谱范围220-2500nm（可选择不同配置），电脑软件选择发射端和接收端的角度，实现快速的光谱测量，能够满足透射/反射/散射/荧光/辐射等多种模式的全角度光谱测量应用的需求。

入射端带有一个旋转偏振片架和一个滤波片架，可以放置一个偏振片和滤波片。接收端带有一个滤波片架，可以放置一个滤波片、偏振片或者波片。各种波长的范围的偏振片、滤波片和波片可供选择。

应用领域：

§光子晶体器件          §传感器器件制备        §液晶显示

§纳米光学材料          §材料镀膜              §角度相关材料分析

§LED光源等

主要特点：

• 全角度测量：发射端角度范围0°至180°，接收端角度范围0°至360°，可以实现反射、透射、散射、荧光和辐射的全角度光谱测量。

• 精确角度控制：高精度电机，角度精度及重复性能优异。

• 多光谱测量模式：可以实现上反射、下反射、透射、散射/荧光、辐射等多种光谱测量。

• 可编程测量模式：可以通过编程，来实现自动多角度光谱测量。

• 自由测量模式：可以任意控制样品台的入射角、接收角，实现光谱测量。

• 可选配件多样：根据客户的不同测量应用，可以选择不同的光源、滤光片、偏振片等配件完成不同的测量应用。

• 多维调节样品台：样品台由高精度三维位移台和二维倾斜台组成，可实现样品的五维正交调节。

光谱角度测量模式

反射测量（上反射/下反射）模式                     透射测量模式

散射/荧光测量模式                                  辐射测量模式

可选配件