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详细内容
配有多种参数。 评估型表面粗糙度测量仪同时配置 分析功能。
● 装置配备FORMTRACEPAK表面粗糙度/轮 廓分析程序。
● 标准或低测力检出器(4mN/0.75mN)的选 择,无需考虑设备本体是否有装配倾斜 装置。
●Z2轴(立柱)的700mm型*新上市
规格 型号 SV-3200S4 SV-3200H4 SV-3200W4 SV-3200L4 SV-3200S8 SV-3200H8 SV-3200W8 SV-3200L8 测量范围/ 分辨力 Z1轴 800µm/0.01µm, 80µm/0.001µm, 8µm/0.0001µm X轴行程范围 100mm 200mm
驱动部
X轴直线度 (0.05+0.001L)µm (L: 测量长度 (mm)) (0.1+0.002L)µm (L: 测量长度 (mm)) 测量速度 0.02、0.05、0.1、0.2、0.5、1.0、2.0、5.0、10、20mm/s Z2轴 (立柱) 300mm (电动)*1 500mm (电动)*1 700mm (电动)*1 300mm (电动)*1 500mm (电动)*1 700mm (电动)*1
评价轮廓
原始轮廓, 粗糙度轮廓, 波形轮廓, 滤波轮廓, 残余线轮廓, 滚圆波纹度轮廓 滚圆中心线波纹度轮廓, DIN4776轮廓, 粗糙度 motif轮廓, 波形 motif轮廓