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产品展示

数显试验机控制系统

点击次数:96发布时间:2020/6/9 17:23:19

数显试验机控制系统

更新日期:2020/6/9 17:23:19

所 在 地:

产品型号:A3

简单介绍:朗杰推出的数显试验机控制系统由飞利A3和PinTest软件组成,A3控制器是一款体现全新设计理念的测控仪,具有独立数显,微机屏显,平板易显?三种操作模式。

优质供应

详细内容

 配送清单:

  飞利A3控制器 + PinTest试验软件+ A3kit调试软件

 

尽享独立数显之便捷

平板触控之时尚

微机窗体界面之专业

 

产品介绍

    朗杰推出的数显试验机控制系统由飞利A3和PinTest软件组成,A3控制器是一款体现全新设计理念的测控仪,具有独立数显,微机屏显,平板易显?三种操作模式。

1、飞利A3

    朗杰公司推出的飞利?503试验机控制器新品,简称A3控制器,主要用于电子万能试验机.A3控制器是一款体现全新设计理念的测控仪,具有独立数显,微机屏显,平板易显?三种操作模式.控制界面简明,易用,如使用计算器般轻松操作.数据处理采用RSA技术,提供无限扩展的标准分析功能.

2、软件

      A3kit工具软件是集配置,标定,调试,硬件测试等于一体的专用于A3控制器的软件集成工具,调试人员的调试工作变得更纯粹,简单,有序.试验软件也可以单独分离出来,让客户使用更方便,软件界面简洁有效.

数显试验机控制系统飞利A3细节展示:

 

数显试验机控制系统硬件部分参数:

产品参数

 硬件特性

 ●     力通道: 2mv/v(可定制),zui高分辨率50万码

 ●     位移通道: 1

 ●     大变形通道: 1路,2路(用加法器转接板)

 ●     频率输出: 0~250KHz

 ●     数字输入: 4

 ●     数字输出: 4

 ●     通讯接口: RJ45

 ●     电源: AC220V

 ●     显示: 6位数码管

 测控性能

 ●     试验力有效量程: 2%~100%MFS

 ●     试验力测量误差: 优于示值的±0.5%

 ●     位移测量分辨率: 0.01mm

 ●     大变形测量分辨率: 0.01mm

 ●     控制方式: 开环位移控制,闭环位移控制,闭环力控制

 ●     速度档位: 4档(档位速度支持用户自定义)

 

应用:独立数显、微机屏显、平板易显

 


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企业档案

  • 会员类型:免费会员
  • 工商认证: 【未认证】
  • 最后认证时间:
  • 法人:
  • 注册号:
  • 企业类型:个体商户
  • 注册资金:人民币万

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