应用域

 iEDX-150MT镀层测厚仪应用于金属电镀镀层分析域，五金电镀，汽车配件电镀等

技术指标

多镀层分析，1～5层

测试精度：0.001 μm

元素分析范围从铝(Al)到铀(U)

测量时间：10~30

Si-PIN探测器，能量分辨率为149±10eV（可选配SDD探测器）

微焦X射线管50kV/1mA，钼，铑靶（高配微焦钼靶）

0.2，0.3，0.5mm准直器可选

平台尺寸200×200mm，高度0~150mm，MAX荷载为15公斤

高清CCD摄像头（200万像素），准确监控位置

多变量非线性去卷积曲线拟合

高性能FP/MLSQ分析

仪器尺寸：618×525×490mm

图谱界面

软件支持无标样分析

超大分析平台和样品腔

集成了镀层界面和合金成分分析界面

采用多种光谱拟合分析处理技术

镀层测厚分析精度可达到0.001μm

 产品特征

1. 高性能高精度X荧光光谱仪（XRF）

2. 计算机 / MCA(多通道分析仪)

2048通道逐次近似计算法ADC（模拟数字转换器）

3. Multi Ray. 运用基本参数法（FP）软件，对样品进行精确的镀层厚度分析，可对镀液进行定量分析。

MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度及全元素分析

励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

线性模式进行薄膜镀层厚度测量

相对（比）模式  无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多镀层厚度同时测量

单镀层应用 [如：Cu/ABS等]

双镀层应用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]

三镀层应用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]

四镀层应用 [如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]

合金镀层应 [如：Ni-Zn/Fe Sn-Ni/ABS  Pd-Ni/Cu/ABS等]

4. Multi-Ray. 快速、简单的定性分析的软件模块。可同时分析20种元素。半定量分析频谱比较、减法运算和配给。

Multi-Ray 金属行业精确定量分析软件。可同时分析8种元素。小二乘法计算峰值反卷积。采用卢卡斯-图思计算方法进行矩阵校正及内部元素作用分析。金属分析精度可达±0.02%，贵金属（8-24 Karat) 分析精度可达±0.05kt

Multi-Ray. 对镀液进行分析。采用不同的数学计算方法对镀液中的金属离子进行测定。含全元素、内部元素、矩阵校正模块。

5. Multi-Ray WINDOWS 7软件操作系统

6. 完整的统计函数均值、 标准差、 低/高读数，趋势线，Cp 和 Cpk 因素等

7. 自动移动平台，用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量,自动多点分析。每个阶段的文件有多 25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含完全统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。

分析报告结果

直接打印分析报告
报告可转换为PDF，EXCEL格式

样品分析图谱：

测试结果界面：