仪器简介：

PL Imaging system（光致发光检测系统）是一种全新的应用于太阳能电池缺陷检测的手段，以往的EL Imaging（电致发光）只能用于检测电池片及模组的缺陷检测，而PL Imaging则延伸到了Wafer 的缺陷检测，从而在前一个工序，对产品的质量监控有了一个更有力的保障。

此款产品广泛应用于太阳能电池研究，生产过程品质控制，工艺改良等。同时可提供在线型（in Line) PL系统。

国内部分太阳能电池生产企业及研发机构已使用我司的产品。

检测内容：隐裂（crack, and micro crack,），LBIC， 电极不良，热点，串联电阻，并联电阻，电阻分布，载流子寿命,。。。。

可提供 PL&EL&LBIC 一体机

技术参数：

系统组成：

-K301VIS/IR Imaging 装置

-激光及激光power

-光致发光光学系统

-样品JIG（156*156mm)

-温度控制模块

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主要特点：

-利用电致/光致发光手段同时检测wafer，电池片的各种缺陷。

-不仅适用于单晶，而且也适用于多晶硅及电池片的检测

-测试时间短，精度高

-可以检测到不同于电致发光检测到的缺陷

-对产品可自动分类（sorting）

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