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XS Microbalances
XS微量天平
具有*可读性的双量程技术。
1μg可读性，1μg重复性，zui大秤量为800 mg
小于0.8ug的重复性对于获得更优称量可靠性来说至关重要的。XS微量天平可减少不必要的重复测试以及对昂贵样品的浪费，同时可保证在称量zui小的微量样品时也具有准确的称量结果。
可再现的结果
易于操作
具有可定制化的XS触摸终端可确保操作更加简单、直观及无差错。
易于操作
用户指导过程管理
梅特勒-托利多的LabX®实验室软件可在天平触摸屏上显示的灵活的SOP用户指南。利用自动数据处理、计算和报告，具有LabX软件的天平可以轻松实现过程安全性和可追溯性要求，并支持您实现无纸化实验室。
用户指导过程管理
扩展更加智能
每个XS微量天平可以根据应用要求进行优化。即使在恶劣的称量条件下，U型去静电装置电极等配件依然可确保您称量结果的准确性与再现性。
扩展更加智能
产品和规格
XS微量天平
XS3DU
分辨率10µg;1µg
可读性10µg;1µg
合法交易No
尺寸(高x宽)113 mm x 128 mm
zui大秤量3.1 g/800 mg
zui小称量值(USP)，典型值1 mg
校正内部/FACT
秤盘直径27 mm
稳定时间6 s
线性误差（典型值）±4µg
重复性（典型）0.5µg
重复性（校验砝码）5µg(0.2 g)梅特勒微量天平
http://www.chem17.com/st303830/erlist_1101401.html
http://www.chem17.com/st303830/product_19762115.html
