您的位置:易推广 > 光学仪器 > 光学测量仪器 > 其他 > 上海安竹光电科技有限公司 > 产品展示 > 平板探测器 > 工业数字DR成像系统 X-RAY无损检测

产品展示

工业数字DR成像系统 X-RAY无损检测

点击次数:66发布时间:2022/8/30 12:40:22

工业数字DR成像系统 X-RAY无损检测

更新日期:2024/8/7 20:25:10

所 在 地:中国大陆

产品型号:

简单介绍:工业数字DR成像系统 X-RAY无损检测 1719平板探测器;

优质供应

详细内容

工业数字DR成像系统 X-RAY无损检测


                                              工业数字DR成像系统 X-RAY无损检测 平板探测器                                                      
                                                                                                     数字DR成像系统参数:

技术参数

规格

 

探测器类别

非晶硅

 

闪烁体

CsI GOS

 

图像尺寸(mm)

160×130

 

像素矩阵

1274×1024

 

像素间距(um)

125

 

A/D转换(bits)

16

 

灵敏度(LSB/nGy, RQA5)

1.4

 

线性剂量(uGy, RQA5).

40

 

调制传递函数@ 0.5 LP/mm

0.60

 

调制传递函数@ 1.0 LP/mm

0.36

 

调制传递函数@ 2.0 LP/mm

0.16

 

调制传递函数@ 3.0 LP/mm

0.08

 

残影(%, 300uGy, 60s)

<0.5

 

量子探测效率@ 0.0 LP/mm (2.5uGy)

0.73

 

量子探测效率@ 1.0 LP/mm (2.5uGy)

0.55

 

量子探测效率@ 2.0 LP/mm (2.5uGy)

0.45

 

量子探测效率@ 3.0 LP/mm (2.5uGy)

0.29

 

空间分辨率(LP/mm)

4.0

 

帧速率(fps)

30

 

X-射线工作范围(kV)

40/-/150

 

传输方式

无线

 

功率(W)

12

 

电源(V)

DC24

 

交流电源频率(Hz)

50/-/60

 

 

 

适配器输出电压(V)

24 DC

 

探测器尺寸(mm)

170×195×150

 

探测器重量(kg,不含线缆)

1.0±0.1

 

探测器外壳材料

碳板,铝合金

 

存储温度(ºC)

-20/-/55

 

工作温度(ºC)

5/-/35

 

存储和运输湿度(%RH)

10/-/75

 

工作湿度(%RH)

10/-/75

 

         

 

联系我们

联系人:张小姐

点击查看联系方式

企业档案

  • 会员类型:免费会员
  • 工商认证: 【已认证】
  • 最后认证时间:2020年
  • 法人:钟华**
  • 注册号:91310114MA1GWE****
  • 企业类型:生产商
  • 注册资金:人民币***万

script>
在线咨询

提交