德国西克值型编码器ATM60系列

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德国西克值型编码器ATM60系列

 A3M60B-S4PB013x1

值编码器和增量型编码器的相对优点

不过，个人认为，圈数记录在电池掉电的情况下发生数据丢失，只不过是一个表象而已，其圈数反馈必须依赖于历史数据记录的运行机理，才是问题的根本所在。可以说，对于机械轴旋转圈数，这种编码器基本上没有采取什么检测措AHM36A-BACC014x12

 AHM36A-S1PC014x12物理环境较为恶劣的应用场合，例如：高温、低温、振动、冲击、油污...等等。

而对各齿轮角度位置的检测，所采1974 年，一位名叫做 John R. Wiegand 的物理学家发现，经过适当处理的合金丝，因外壳和内芯之间的磁性差异，在特定的外加磁场条件作用下，可以使内芯与外壳的磁化方向相同或相反，同时磁极性的快速变化会使得合金丝两端产生一个短而有力的电脉冲，这种现象被称作“韦根效应”用的就是和上述单圈值编码器相同的技术，通常为值光电码盘或磁性编码器。

将基于韦根效应制成的韦根线圈置于磁性编码器内并靠近机械轴上的末端磁铁，就可以借助磁场旋转在线圈两端激发出来的电脉冲，触发其内部寄存器的计数累加动作，从而实现对磁性编码器的圈数检测码器的检测机构，以及一套复杂精密的串联齿轮组。因此，这种机械齿轮式多圈值编码器，通常会比一般的单圈值编码器和电池加计数寄存器式的多圈值编码器贵很多。

为了满足用户对多圈值编码器低成本、无电池的需求，这几年市面上开始出现一种基于“韦根效应”的多圈值编码器技术。

如上图所示的多圈值编码器，就是采用光电码盘技术测量其单圈位置和多圈齿轮角度的。

而在上图所示的多圈值编码器中，单圈位置和多圈齿轮角度的检测就都使用了霍尔传感器（磁编技术）。多圈检测使用了 3 级齿轮减速，如果每一级齿轮与上一级之间的速比为 1 : 16，那么主机械轴在旋转时，与每一级齿轮的角度位置比则分别为 16 : 1、256 : 1、4096 : 1，这样，该编码器的大圈数测量范围就是 4096 圈