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自动水分测定仪
点击次数:3740发布时间:2009/11/2 0:00:00
更新日期:2024/10/25 10:34:29
所 在 地:中国大陆
产品型号:XKSF-2000
优质供应
详细内容
XKSF型自动水分测定仪是测定煤中水分的智能化仪器,它严格按国标的有关要求自动完成水分的测定过程。它还可用于测定其它非金属物质的水分含量。
一、 仪器特点:
1、采用型控制电路,集成度高。仪器高度智能化、自动化,性能更加稳定。
2、采用大屏幕LCD液晶显示器,测定数据、状态指示,中文菜单操作提示清晰直观。
3、采用进口电子天平,称量稳定、快速、。
4、用户可选配RS232串行接口及动态测控软件,与上位计算机联机,由计算机进行操作和数据处理。
5、称重有误时,自动重新称量。仪器自动判定有无容器,自动判定有无样品。
6、内置快速、恒重两种测定程序。微波、红外两种烘干方式。烘干时间、烘干方式、测定程序用户任意设定。微波烘干方式效率高,时间短。对于焦炭、易燃的、金属含量较高的煤种适合于红外烘干方式。
7、具有掉电保护功能。内置日历时钟,设定参数,测定数据不因掉电而丢失。
8、自带打印机,测定数据自动打印,或重复打印。
9、每天自动生成非重复的样品编码。
二、 技术参数:
1、工作电源:AC220V±10% 50Hz
2、微波输入功率:≤1400W 微波输出功率:≤900W 微波频率:2450MHz
3、红外功率:≤1200W
4、天平称量范围:全水≤310g; 分析水≤120g
5、天平分辨率:全水:0.001g 分析水:0.0001g
6、水分测定精度:全水≤0.4%; 符合GB/T211-1996 分析水≤0.2%; 符合GB/T15334-96
7、一次分析试样数:≤9个
8、仪器外形尺寸:510㎜×380㎜×540㎜
9、环境要求:温度0℃~40℃ 相对湿度≤85%
10、试样要求:全水粒度<6㎜ 质量:8g~14g 分析水粒度≤0.2㎜ 质量:0.8g~1.2g
三、 天平校正:仪器采用的Sartorius电子天平,自配内置的校正砝码和校正程序。出厂时已经过校正和特别功能设定,一般无须重新校正。若必须校正,应首先打开仪器后面板,并严格按照天平使用手册操作校正。