薄膜厚度分析 FIL Mapper 软件具有强大而独特的薄膜厚度分析算法和可以让您轻松测量点的功能。

• 结合基于光学干涉原理的膜厚测量功能和自动高速载物台的系统

• 以过去无法想象的速度测量点的膜厚和折射率

• 兼容2英寸至450毫米的硅基板，可任何测量点

F50自动测绘膜厚测量系统是将基于光学干涉原理的膜厚测量功能与自动高速载物台相结合的系统。
以过去无法想象的速度测量点的膜厚和折射率。它支持从2英寸到450毫米的硅基板，并且可以任何测量点。
还有与大型玻璃基板兼容的可选产品。