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日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度测量系统

价格:¥电议

品牌名称:$brandModel.Title(进口品牌)型号:F10-RT 原产地:中国大陆 发布时间:2022/3/17更新时间:2024/9/4

产品摘要:日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度测量系统F10-RT\主要特点集成测量单元和测量台的紧凑型台式测量系统光谱范围广,可选择多种光源反射率和透射率同时测量,膜厚、折射率和可用分析能力消光系数标准维护时间记录的相机测量位置放个样品就行了。无需调整光学系统,设置非常简单

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 日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度测量系统F10-RT

1

F10-RT 是一款集成了测量单元和测量台的紧凑型台式测量系统。可同时测量反射率和透射率,并可轻松分析膜厚、折射率和消光系数。
只需一根 USB 线和电源线即可轻松连接,无需调整光学系统,无需复杂的设置,而且设置非常简单。

主要特点

  • 集成测量单元和测量台的紧凑型台式测量系统
    光谱范围广,可选择多种光源
  • 反射率和透射率同时测量,膜厚、折射率和可用分析能力消光系数
    标准维护时间记录的相机测量位置
  • 放个样品就行了。无需调整光学系统,设置非常简单

主要应用

 

平板光学镀膜薄膜太阳能电池
聚酰亚胺、ITO、抗蚀剂、氧化膜、抗反射涂层、PET和玻璃基板上的各种光学膜
玻璃、眼镜、镜片等的硬质涂层。
CdTe、CIGS、非晶硅等

产品阵容

 

 模型

 F10-RT

-紫外线

 F10-RT

 F10-RT

-近红外

 F10-RT

 -近红外

 F10-RT

 -UVX

测量波长

范围

膜厚测量

范围

准确性

光源

 190 – 1100nm 380 – 1050nm  950 – 1700nm  380 – 1050nm 380 – 1050nm
 1nm – 40μm 15nm – 70μm  100nm – 150μm  15nm – 150μm 1nm – 150μm
± 0.2% 薄膜厚度 ± 0.4% 薄膜厚度 ± 0.2% 薄膜厚度
1纳米 2纳米 3纳米 2纳米 1纳米

氘·

卤素

卤素

氘·

卤素

 

测量示例

 

平板中使用的透明电ITO的膜厚和折射率的测定例
同时测定反射率和透射率。薄膜厚度分析 FIL Measure 软件可即时分析薄膜厚度、折射率等。

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