当前位置： 易推广 > 生命科学 > 免疫分析 > 荧光显微检测系统 > 武汉市艾德宝仪器设备有限公司 > 产品展示 > 实验室水质分析仪器 > 帝通电子TEIT > 日本filmetrics显微自动膜厚测量系统
日本filmetrics显微自动膜厚测量系统
价格：￥电议
品牌名称：$brandModel.Title(进口品牌)型号：F54 原产地：中国大陆 发布时间：2022/3/17更新时间：2024/9/4
产品完善度： 访问次数：409
企业档案
会员类型：会员
已获得易推广信誉 等级评定
(0 -40)基础信誉积累，可浏览访问
(41-90)良好信誉积累，可接洽商谈
(91+ )优质信誉积累，可持续信赖
易推广会员：4年
工商认证 【已认证】
最后认证时间：
注册号： 【已认证】
法人代表： 【已认证】
企业类型：生产商 【已认证】
注册资金：人民币10万 【已认证】
产品数：4194
参观次数：1114517
手机网站：http://m.yituig.com/c157433/
旗舰版地址：http://www.whaidebao.com
日本理音（RION）
德国/西门子
PETER-HIRT/瑞士
FEINMESS-SUHL/德国
WESTERN-PEGASUS/英国
DIATEST德国
德国德图
德国METREL（美翠）
光学平台
日本京都
西门子气体分析仪
德国IKA/艾卡
美国TSI
美国DAKOTA达高特
英国凯恩
手消毒器系列
实验室设备
红外线测温仪
灭菌器
封管机
瑞士peterhir皮特
恒温恒湿箱
氦质谱检漏仪
万能试验机
药检仪器
日立
日本日新
意大利WELP
美国MetOne
美国EITUV能量计
美国Celesco
- 纯水机
- 食品研究仪器
- 微生物研究设备
- 天平
- 泵
- 离心机
- 液氮罐
- 手套箱
- 培养箱
- 加热板
- 恒温浴
- 搅拌混匀器
- 涡旋振荡器
- 超声波破碎仪
- 波破碎仪
- Gefran 高温熔体压力
- Celesco 转角位置与倾角位置
- Celesco 拉绳位移传感器
美国YSI水质分析仪
实验室水质分析仪器
粉尘测试仪
德国DIATEST
- BEKOMAT电子液位排水管
- 废油水分离器
- 膜式干燥管
- 膜式干燥管/能源管
- 干燥机
- 其它仪器
- 位移传感器
- 测量表(指示表)
- 检测设备
- 锥孔测量(倒角测量)
- 齿轮测量仪
- 螺纹测量仪
- 外径测量仪
- 孔径测量仪
日本三菱化学
美国YSI
地质环境监测设备
- 工具箱
- 土壤酸碱度计、PH计
- 土肥实验室仪器清单
- 农、林实验室常用设备
- 催芽器 /电功能水发生器
- 昆虫/植物标本盒
- 土壤水分测量仪
- 农药残留速测仪
- 智能化测土配方施肥仪
- 土壤肥料养分速测仪
- 有机肥检测仪
- 植物病虫害检测仪
- 植物营养测试仪
- 综合食品安全检测仪
- 昆虫性诱剂(芯)/诱捕器
- 测报灯/孢子捕捉仪
- 粘虫板、杀虫灯
- 自然灾害检测
- 智慧城市--农业
- 检测控制软件系系统
- 环境检测
- 监测站
- 记录仪
- 气象站
- 传感器--变送器
- 水肥---体机
- 气象观测仪
- 传感器
- 土壤肥料速测仪
- 食品安全检测仪
- 病虫害监测与防治
- 叶绿素检测仪
- 便携式红外CO分析仪
- 便携式红外CO/CO2分析仪
- 无线滑坡预警伸缩仪
- 裂缝报警器
- 滑坡预警伸缩仪
德国IKA艾卡
德国德图testo
- 温度记录仪
- 空气温度测量仪
- 红外测温仪
- 数字式冷媒表组
- 风压、差压、绝压
- 德国耶拿原子吸收
- 转速表
- 电笔及电充导通
- 钳表
- 万用表
- PH计
- 风速、风量
- 无线温湿度监测系统
- 室内多功能测量仪
- 红外测油仪
- 烟气分析仪
英国凯恩KANE
联系我们
武汉市艾德宝仪器设备有限公司
电话：17786036115
联系人：郝海兰 (请说明是在易推广看到的！谢谢)
手机：17786036115
邮编：
邮箱：2176518131@qq.com
地址：武汉市江夏区经济开发区汤逊湖...
详细内容
F54显微自动膜厚测量系统是将微小区域内的高精度膜厚/光学常数分析功能与自动高速载物台相结合的系统。兼容 2 英寸到 450 毫米的硅基板，它可以以的速度在点测量薄膜厚度和折射率。
兼容5x至50x物镜，测量光斑直径可根据应用选择1μm至100μm。
主要应用
抗蚀剂、氧化膜、氮化膜、非晶/多晶硅、抛光硅片、化合物半导体、ⅬT衬底等。 |
| 有机膜、聚酰亚胺、ITO、单元间隙等 |
产品阵容
模型
F54-UV
F54
F54-近红外
F54-EXR
F54-UVX
测量波长范围
膜厚测量范围
5倍
10倍
15倍
50倍
100倍
准确性*
| 190 – 1100nm | 400 – 850nm | 950 – 1700nm | 400 – 1700nm | 190 – 1700nm |
| ———— | 20nm-40μm | 40nm – 120μm | 20nm – 120μm | ———— |
| ———— | 20nm – 35μm | 40nm – 70μm | 20nm – 70μm | ———— |
| 4nm – 30μm | 20nm-40μm | 40nm – 100μm | 20nm – 100μm | 4nm – 100μm |
| ———— | 20nm – 2μm | 40nm – 4μm | 20nm – 4μm | ———— |
| ———— | 20nm – 1.5μm | 40nm – 3μm | 20nm – 3μm | ———— |
| ± 0.2% 薄膜厚度 | ± 0.4% 薄膜厚度 | ± 0.2% 薄膜厚度 | ||
| 1纳米 | 2纳米 | 3纳米 | 2纳米 | 1纳米 |
测量示例
可以测量硅晶片上的氧化膜和抗蚀剂。
主要特点
-
结合基于光学干涉原理的膜厚测量功能和自动高速载物台的系统
-
兼容5x到50x物镜，测量光斑直径可根据应用从1μm到100μm变化。
-
兼容 2 英寸至 450 毫米的硅基板
