德aixACCT铁电综合测试系统
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品牌名称：$brandModel.Title(进口品牌)型号：TF-2000 原产地：中国大陆 发布时间：2020/12/22 10:22:46更新时间：2024/12/2 11:27:37
产品摘要：德aixACCT TF-2000铁电综合测试系统产品介绍1.电滞回线测试频率高可达1MHz 2.疲劳测试频率高可达20MHz 3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA 4.测试频率低至1mHz
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详细内容
TF-2000德aixACCT铁电综合测试系统
德aixACCT TF-2000铁电综合测试系统
产品特点
产品参数
产品介绍
1.电滞回线测试频率高可达1MHz
2.疲劳测试频率高可达20MHz
3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA
4.测试频率低至1mHz
5.测量样品的尺寸可小至200x200nm
6.脉冲测试
7.漏电流测试
8.损耗测试
9.阻抗分析
10.压电系数测试
12.热释电性能测试等
主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性
2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应
3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性
4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿
5.测量小信号材料的压电系数与介电常数
6.可与原子力显微镜联用，对微区或Nanoscale的铁电、压电性能进行测试 仪器介绍 德aixACCT公司生产的TF Analyzer 2000铁电分析仪是上的电子材料电特性参数测量仪器。该仪器为完*全模块化设计，不同的模块对应不同的电特性测量方式，如：DRAM模块可研究超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性; RELAXATION模块可测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应; FERROELECTRIC HYSTERESIS模块测试铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性; PULSE SWITCHING模块提供在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿。
德aixACCT TF-2000铁电综合测试系统
产品特点
产品参数
产品介绍
1.电滞回线测试频率高可达1MHz
2.疲劳测试频率高可达20MHz
3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA
4.测试频率低至1mHz
5.测量样品的尺寸可小至200x200nm
6.脉冲测试
7.漏电流测试
8.损耗测试
9.阻抗分析
10.压电系数测试
12.热释电性能测试等
主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性
2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应
3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性
4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿
5.测量小信号材料的压电系数与介电常数
6.可与原子力显微镜联用，对微区或Nanoscale的铁电、压电性能进行测试 仪器介绍 德aixACCT公司生产的TF Analyzer 2000铁电分析仪是上的电子材料电特性参数测量仪器。该仪器为完*全模块化设计，不同的模块对应不同的电特性测量方式，如：DRAM模块可研究超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性; RELAXATION模块可测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应; FERROELECTRIC HYSTERESIS模块测试铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性; PULSE SWITCHING模块提供在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿。 德aixACCT TF-2000铁电综合测试系统
产品特点
产品参数
产品介绍
1.电滞回线测试频率高可达1MHz
2.疲劳测试频率高可达20MHz
3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA
4.测试频率低至1mHz
5.测量样品的尺寸可小至200x200nm
6.脉冲测试
7.漏电流测试
8.损耗测试
9.阻抗分析
10.压电系数测试
12.热释电性能测试等
主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性
2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应
3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性
4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿
5.测量小信号材料的压电系数与介电常数
6.可与原子力显微镜联用，对微区或Nanoscale的铁电、压电性能进行测试 仪器介绍 德aixACCT公司生产的TF Analyzer 2000铁电分析仪是上的电子材料电特性参数测量仪器。该仪器为完*全模块化设计，不同的模块对应不同的电特性测量方式，如：DRAM模块可研究超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性; RELAXATION模块可测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应; FERROELECTRIC HYSTERESIS模块测试铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性; PULSE SWITCHING模块提供在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿。
德aixACCT TF-2000铁电综合测试系统
产品特点
产品参数
产品介绍
1.电滞回线测试频率高可达1MHz
2.疲劳测试频率高可达20MHz
3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA
4.测试频率低至1mHz
5.测量样品的尺寸可小至200x200nm
6.脉冲测试
7.漏电流测试
8.损耗测试
9.阻抗分析
10.压电系数测试
12.热释电性能测试等
主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性
2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应
3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性
4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿
5.测量小信号材料的压电系数与介电常数
6.可与原子力显微镜联用，对微区或Nanoscale的铁电、压电性能进行测试 仪器介绍 德aixACCT公司生产的TF Analyzer 2000铁电分析仪是上的电子材料电特性参数测量仪器。该仪器为完*全模块化设计，不同的模块对应不同的电特性测量方式，如：DRAM模块可研究超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性; RELAXATION模块可测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应; FERROELECTRIC HYSTERESIS模块测试铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性; PULSE SWITCHING模块提供在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿。
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产品介绍
1.电滞回线测试频率高可达1MHz
2.疲劳测试频率高可达20MHz
3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA
4.测试频率低至1mHz
5.测量样品的尺寸可小至200x200nm
6.脉冲测试
7.漏电流测试
8.损耗测试
9.阻抗分析
10.压电系数测试
12.热释电性能测试等
主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性
2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应
3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性
4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿
5.测量小信号材料的压电系数与介电常数
6.可与原子力显微镜联用，对微区或Nanoscale的铁电、压电性能进行测试 仪器介绍 德aixACCT公司生产的TF Analyzer 2000铁电分析仪是上的电子材料电特性参数测量仪器。该仪器为完*全模块化设计，不同的模块对应不同的电特性测量方式，如：DRAM模块可研究超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性; RELAXATION模块可测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应; FERROELECTRIC HYSTERESIS模块测试铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性; PULSE SWITCHING模块提供在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿。
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1.电滞回线测试频率高可达1MHz
2.疲劳测试频率高可达20MHz
3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA
4.测试频率低至1mHz
5.测量样品的尺寸可小至200x200nm
6.脉冲测试
7.漏电流测试
8.损耗测试
9.阻抗分析
10.压电系数测试
12.热释电性能测试等
主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性
2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应
3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性
4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿
5.测量小信号材料的压电系数与介电常数
6.可与原子力显微镜联用，对微区或Nanoscale的铁电、压电性能进行测试 仪器介绍 德aixACCT公司生产的TF Analyzer 2000铁电分析仪是上的电子材料电特性参数测量仪器。该仪器为完*全模块化设计，不同的模块对应不同的电特性测量方式，如：DRAM模块可研究超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性; RELAXATION模块可测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应; FERROELECTRIC HYSTERESIS模块测试铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性; PULSE SWITCHING模块提供在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿。 德aixACCT TF-2000铁电综合测试系统
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产品参数
产品介绍
1.电滞回线测试频率高可达1MHz
2.疲劳测试频率高可达20MHz
3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA
4.测试频率低至1mHz
5.测量样品的尺寸可小至200x200nm
6.脉冲测试
7.漏电流测试
8.损耗测试
9.阻抗分析
10.压电系数测试
12.热释电性能测试等
主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性
2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应
3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性
4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿
5.测量小信号材料的压电系数与介电常数
6.可与原子力显微镜联用，对微区或Nanoscale的铁电、压电性能进行测试 仪器介绍 德aixACCT公司生产的TF Analyzer 2000铁电分析仪是上的电子材料电特性参数测量仪器。该仪器为完*全模块化设计，不同的模块对应不同的电特性测量方式，如：DRAM模块可研究超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性; RELAXATION模块可测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应; FERROELECTRIC HYSTERESIS模块测试铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性; PULSE SWITCHING模块提供在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿。 德aixACCT TF-2000铁电综合测试系统
产品特点
产品参数
产品介绍
1.电滞回线测试频率高可达1MHz
2.疲劳测试频率高可达20MHz
3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA
4.测试频率低至1mHz
5.测量样品的尺寸可小至200x200nm
6.脉冲测试
7.漏电流测试
8.损耗测试
9.阻抗分析
10.压电系数测试
12.热释电性能测试等
主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性
2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应
3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性
4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿
5.测量小信号材料的压电系数与介电常数
6.可与原子力显微镜联用，对微区或Nanoscale的铁电、压电性能进行测试 仪器介绍 德aixACCT公司生产的TF Analyzer 2000铁电分析仪是上的电子材料电特性参数测量仪器。该仪器为完*全模块化设计，不同的模块对应不同的电特性测量方式，如：DRAM模块可研究超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性; RELAXATION模块可测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应; FERROELECTRIC HYSTERESIS模块测试铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性; PULSE SWITCHING模块提供在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿。 德aixACCT TF-2000铁电综合测试系统
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产品参数
产品介绍
1.电滞回线测试频率高可达1MHz
2.疲劳测试频率高可达20MHz
3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA
4.测试频率低至1mHz
5.测量样品的尺寸可小至200x200nm
6.脉冲测试
7.漏电流测试
8.损耗测试
9.阻抗分析
10.压电系数测试
12.热释电性能测试等
主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性
2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应
3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性
4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿
5.测量小信号材料的压电系数与介电常数
6.可与原子力显微镜联用，对微区或Nanoscale的铁电、压电性能进行测试 仪器介绍 德aixACCT公司生产的TF Analyzer 2000铁电分析仪是上的电子材料电特性参数测量仪器。该仪器为完*全模块化设计，不同的模块对应不同的电特性测量方式，如：DRAM模块可研究超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性; RELAXATION模块可测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应; FERROELECTRIC HYSTERESIS模块测试铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性; PULSE SWITCHING模块提供在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿。 德aixACCT TF-2000铁电综合测试系统
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产品介绍
1.电滞回线测试频率高可达1MHz
2.疲劳测试频率高可达20MHz
3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA
4.测试频率低至1mHz
5.测量样品的尺寸可小至200x200nm
6.脉冲测试
7.漏电流测试
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10.压电系数测试
12.热释电性能测试等
主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性
2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应
3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性
4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿
5.测量小信号材料的压电系数与介电常数
6.可与原子力显微镜联用，对微区或Nanoscale的铁电、压电性能进行测试 仪器介绍 德aixACCT公司生产的TF Analyzer 2000铁电分析仪是上的电子材料电特性参数测量仪器。该仪器为完*全模块化设计，不同的模块对应不同的电特性测量方式，如：DRAM模块可研究超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性; RELAXATION模块可测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应; FERROELECTRIC HYSTERESIS模块测试铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性; PULSE SWITCHING模块提供在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿。 德aixACCT TF-2000铁电综合测试系统
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产品参数
产品介绍
1.电滞回线测试频率高可达1MHz
2.疲劳测试频率高可达20MHz
3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA
4.测试频率低至1mHz
5.测量样品的尺寸可小至200x200nm
6.脉冲测试
7.漏电流测试
8.损耗测试
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10.压电系数测试
12.热释电性能测试等
主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性
2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应
3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性
4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿
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6.可与原子力显微镜联用，对微区或Nanoscale的铁电、压电性能进行测试 仪器介绍 德aixACCT公司生产的TF Analyzer 2000铁电分析仪是上的电子材料电特性参数测量仪器。该仪器为完*全模块化设计，不同的模块对应不同的电特性测量方式，如：DRAM模块可研究超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性; RELAXATION模块可测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应; FERROELECTRIC HYSTERESIS模块测试铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性; PULSE SWITCHING模块提供在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿。 德aixACCT TF-2000铁电综合测试系统
产品特点
产品参数
产品介绍
1.电滞回线测试频率高可达1MHz
2.疲劳测试频率高可达20MHz
3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA
4.测试频率低至1mHz
5.测量样品的尺寸可小至200x200nm
6.脉冲测试
7.漏电流测试
8.损耗测试
9.阻抗分析
10.压电系数测试
12.热释电性能测试等
主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性
2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应
3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性
4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿
5.测量小信号材料的压电系数与介电常数
6.可与原子力显微镜联用，对微区或Nanoscale的铁电、压电性能进行测试 仪器介绍 德aixACCT公司生产的TF Analyzer 2000铁电分析仪是上的电子材料电特性参数测量仪器。该仪器为完*全模块化设计，不同的模块对应不同的电特性测量方式，如：DRAM模块可研究超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性; RELAXATION模块可测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应; FERROELECTRIC HYSTERESIS模块测试铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性; PULSE SWITCHING模块提供在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿。 德aixACCT TF-2000铁电综合测试系统
产品特点
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产品介绍
1.电滞回线测试频率高可达1MHz
2.疲劳测试频率高可达20MHz
3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA
4.测试频率低至1mHz
5.测量样品的尺寸可小至200x200nm
6.脉冲测试
7.漏电流测试
8.损耗测试
9.阻抗分析
10.压电系数测试
12.热释电性能测试等
主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性
2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应
3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性
4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿
5.测量小信号材料的压电系数与介电常数
6.可与原子力显微镜联用，对微区或Nanoscale的铁电、压电性能进行测试 仪器介绍 德aixACCT公司生产的TF Analyzer 2000铁电分析仪是上的电子材料电特性参数测量仪器。该仪器为完*全模块化设计，不同的模块对应不同的电特性测量方式，如：DRAM模块可研究超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性; RELAXATION模块可测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应; FERROELECTRIC HYSTERESIS模块测试铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性; PULSE SWITCHING模块提供在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿。 德aixACCT TF-2000铁电综合测试系统
产品特点
产品参数
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1.电滞回线测试频率高可达1MHz
2.疲劳测试频率高可达20MHz
3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA
4.测试频率低至1mHz
5.测量样品的尺寸可小至200x200nm
6.脉冲测试
7.漏电流测试
8.损耗测试
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10.压电系数测试
12.热释电性能测试等
主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性
2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应
3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性
4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿
5.测量小信号材料的压电系数与介电常数
6.可与原子力显微镜联用，对微区或Nanoscale的铁电、压电性能进行测试 仪器介绍 德aixACCT公司生产的TF Analyzer 2000铁电分析仪是上的电子材料电特性参数测量仪器。该仪器为完*全模块化设计，不同的模块对应不同的电特性测量方式，如：DRAM模块可研究超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性; RELAXATION模块可测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应; FERROELECTRIC HYSTERESIS模块测试铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性; PULSE SWITCHING模块提供在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿。 德aixACCT TF-2000铁电综合测试系统
产品特点
产品参数
产品介绍
1.电滞回线测试频率高可达1MHz
2.疲劳测试频率高可达20MHz
3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA
4.测试频率低至1mHz
5.测量样品的尺寸可小至200x200nm
6.脉冲测试
7.漏电流测试
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9.阻抗分析
10.压电系数测试
12.热释电性能测试等
主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性
2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应
3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性
4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿
5.测量小信号材料的压电系数与介电常数
6.可与原子力显微镜联用，对微区或Nanoscale的铁电、压电性能进行测试 仪器介绍 德aixACCT公司生产的TF Analyzer 2000铁电分析仪是上的电子材料电特性参数测量仪器。该仪器为完*全模块化设计，不同的模块对应不同的电特性测量方式，如：DRAM模块可研究超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性; RELAXATION模块可测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应; FERROELECTRIC HYSTERESIS模块测试铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性; PULSE SWITCHING模块提供在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿。 德aixACCT TF-2000铁电综合测试系统
产品特点
产品参数
产品介绍
1.电滞回线测试频率高可达1MHz
2.疲劳测试频率高可达20MHz
3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA
4.测试频率低至1mHz
5.测量样品的尺寸可小至200x200nm
6.脉冲测试
7.漏电流测试
8.损耗测试
9.阻抗分析
10.压电系数测试
12.热释电性能测试等
主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性
2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应
3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性
4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿
5.测量小信号材料的压电系数与介电常数
6.可与原子力显微镜联用，对微区或Nanoscale的铁电、压电性能进行测试 仪器介绍 德aixACCT公司生产的TF Analyzer 2000铁电分析仪是上的电子材料电特性参数测量仪器。该仪器为完*全模块化设计，不同的模块对应不同的电特性测量方式，如：DRAM模块可研究超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性; RELAXATION模块可测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应; FERROELECTRIC HYSTERESIS模块测试铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性; PULSE SWITCHING模块提供在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿。 德aixACCT TF-2000铁电综合测试系统
产品特点
产品参数
产品介绍
1.电滞回线测试频率高可达1MHz
2.疲劳测试频率高可达20MHz
3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA
4.测试频率低至1mHz
5.测量样品的尺寸可小至200x200nm
6.脉冲测试
7.漏电流测试
8.损耗测试
9.阻抗分析
10.压电系数测试
12.热释电性能测试等
主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性
2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应
3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性
4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿
5.测量小信号材料的压电系数与介电常数
6.可与原子力显微镜联用，对微区或Nanoscale的铁电、压电性能进行测试 仪器介绍 德aixACCT公司生产的TF Analyzer 2000铁电分析仪是上的电子材料电特性参数测量仪器。该仪器为完*全模块化设计，不同的模块对应不同的电特性测量方式，如：DRAM模块可研究超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性; RELAXATION模块可测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应; FERROELECTRIC HYSTERESIS模块测试铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性; PULSE SWITCHING模块提供在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿。 德aixACCT TF-2000铁电综合测试系统
产品特点
产品参数
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1.电滞回线测试频率高可达1MHz
2.疲劳测试频率高可达20MHz
3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA
4.测试频率低至1mHz
5.测量样品的尺寸可小至200x200nm
6.脉冲测试
7.漏电流测试
8.损耗测试
9.阻抗分析
10.压电系数测试
12.热释电性能测试等
主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性
2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应
3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性
4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿
5.测量小信号材料的压电系数与介电常数
6.可与原子力显微镜联用，对微区或Nanoscale的铁电、压电性能进行测试 仪器介绍 德aixACCT公司生产的TF Analyzer 2000铁电分析仪是上的电子材料电特性参数测量仪器。该仪器为完*全模块化设计，不同的模块对应不同的电特性测量方式，如：DRAM模块可研究超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性; RELAXATION模块可测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应; FERROELECTRIC HYSTERESIS模块测试铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性; PULSE SWITCHING模块提供在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿。 德aixACCT TF-2000铁电综合测试系统
产品特点
产品参数
产品介绍
1.电滞回线测试频率高可达1MHz
2.疲劳测试频率高可达20MHz
3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA
4.测试频率低至1mHz
5.测量样品的尺寸可小至200x200nm
6.脉冲测试
7.漏电流测试
8.损耗测试
9.阻抗分析
10.压电系数测试
12.热释电性能测试等
主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性
2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应
3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性
4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿
5.测量小信号材料的压电系数与介电常数
6.可与原子力显微镜联用，对微区或Nanoscale的铁电、压电性能进行测试 仪器介绍 德aixACCT公司生产的TF Analyzer 2000铁电分析仪是上的电子材料电特性参数测量仪器。该仪器为完*全模块化设计，不同的模块对应不同的电特性测量方式，如：DRAM模块可研究超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性; RELAXATION模块可测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应; FERROELECTRIC HYSTERESIS模块测试铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性; PULSE SWITCHING模块提供在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿。 德aixACCT TF-2000铁电综合测试系统
产品特点
产品参数
产品介绍
1.电滞回线测试频率高可达1MHz
2.疲劳测试频率高可达20MHz
3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA
4.测试频率低至1mHz
5.测量样品的尺寸可小至200x200nm
6.脉冲测试
7.漏电流测试
8.损耗测试
9.阻抗分析
10.压电系数测试
12.热释电性能测试等
主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性
2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应
3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性
4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿
5.测量小信号材料的压电系数与介电常数
6.可与原子力显微镜联用，对微区或Nanoscale的铁电、压电性能进行测试 仪器介绍 德aixACCT公司生产的TF Analyzer 2000铁电分析仪是上的电子材料电特性参数测量仪器。该仪器为完*全模块化设计，不同的模块对应不同的电特性测量方式，如：DRAM模块可研究超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性; RELAXATION模块可测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应; FERROELECTRIC HYSTERESIS模块测试铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性; PULSE SWITCHING模块提供在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿。 德aixACCT TF-2000铁电综合测试系统
产品特点
产品参数
产品介绍
1.电滞回线测试频率高可达1MHz
2.疲劳测试频率高可达20MHz
3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA
4.测试频率低至1mHz
5.测量样品的尺寸可小至200x200nm
6.脉冲测试
7.漏电流测试
8.损耗测试
9.阻抗分析
10.压电系数测试
12.热释电性能测试等
主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性
2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应
3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性
4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿
5.测量小信号材料的压电系数与介电常数
6.可与原子力显微镜联用，对微区或Nanoscale的铁电、压电性能进行测试 仪器介绍 德aixACCT公司生产的TF Analyzer 2000铁电分析仪是上的电子材料电特性参数测量仪器。该仪器为完*全模块化设计，不同的模块对应不同的电特性测量方式，如：DRAM模块可研究超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性; RELAXATION模块可测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应; FERROELECTRIC HYSTERESIS模块测试铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性; PULSE SWITCHING模块提供在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿。 德aixACCT TF-2000铁电综合测试系统
产品特点
产品参数
产品介绍
1.电滞回线测试频率高可达1MHz
2.疲劳测试频率高可达20MHz
3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA
4.测试频率低至1mHz
5.测量样品的尺寸可小至200x200nm
6.脉冲测试
7.漏电流测试
8.损耗测试
9.阻抗分析
10.压电系数测试
12.热释电性能测试等
主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性
2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应
3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性
4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿
5.测量小信号材料的压电系数与介电常数
6.可与原子力显微镜联用，对微区或Nanoscale的铁电、压电性能进行测试 仪器介绍 德aixACCT公司生产的TF Analyzer 2000铁电分析仪是上的电子材料电特性参数测量仪器。该仪器为完*全模块化设计，不同的模块对应不同的电特性测量方式，如：DRAM模块可研究超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性; RELAXATION模块可测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应; FERROELECTRIC HYSTERESIS模块测试铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性; PULSE SWITCHING模块提供在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿。 德aixACCT TF-2000铁电综合测试系统
产品特点
产品参数
产品介绍
1.电滞回线测试频率高可达1MHz
2.疲劳测试频率高可达20MHz
3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA
4.测试频率低至1mHz
5.测量样品的尺寸可小至200x200nm
6.脉冲测试
7.漏电流测试
8.损耗测试
9.阻抗分析
10.压电系数测试
12.热释电性能测试等
主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性
2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应
3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性
4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿
5.测量小信号材料的压电系数与介电常数
6.可与原子力显微镜联用，对微区或Nanoscale的铁电、压电性能进行测试 仪器介绍 德aixACCT公司生产的TF Analyzer 2000铁电分析仪是上的电子材料电特性参数测量仪器。该仪器为完*全模块化设计，不同的模块对应不同的电特性测量方式，如：DRAM模块可研究超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性; RELAXATION模块可测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应; FERROELECTRIC HYSTERESIS模块测试铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性; PULSE SWITCHING模块提供在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿。 德aixACCT TF-2000铁电综合测试系统
产品特点
产品参数
产品介绍
1.电滞回线测试频率高可达1MHz
2.疲劳测试频率高可达20MHz
3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA
4.测试频率低至1mHz
5.测量样品的尺寸可小至200x200nm
6.脉冲测试
7.漏电流测试
8.损耗测试
9.阻抗分析
10.压电系数测试
12.热释电性能测试等
主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性
2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应
3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性
4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿
5.测量小信号材料的压电系数与介电常数
6.可与原子力显微镜联用，对微区或Nanoscale的铁电、压电性能进行测试 仪器介绍 德aixACCT公司生产的TF Analyzer 2000铁电分析仪是上的电子材料电特性参数测量仪器。该仪器为完*全模块化设计，不同的模块对应不同的电特性测量方式，如：DRAM模块可研究超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性; RELAXATION模块可测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应; FERROELECTRIC HYSTERESIS模块测试铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性; PULSE SWITCHING模块提供在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿。 德aixACCT TF-2000铁电综合测试系统
产品特点
产品参数
产品介绍
1.电滞回线测试频率高可达1MHz
2.疲劳测试频率高可达20MHz
3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA
4.测试频率低至1mHz
5.测量样品的尺寸可小至200x200nm
6.脉冲测试
7.漏电流测试
8.损耗测试
9.阻抗分析
10.压电系数测试
12.热释电性能测试等
主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性
2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应
3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性
4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿
5.测量小信号材料的压电系数与介电常数
6.可与原子力显微镜联用，对微区或Nanoscale的铁电、压电性能进行测试 仪器介绍 德aixACCT公司生产的TF Analyzer 2000铁电分析仪是上的电子材料电特性参数测量仪器。该仪器为完*全模块化设计，不同的模块对应不同的电特性测量方式，如：DRAM模块可研究超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性; RELAXATION模块可测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应; FERROELECTRIC HYSTERESIS模块测试铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性; PULSE SWITCHING模块提供在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿。
