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KRATOS X射线光电子能谱
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品牌名称：$brandModel.Title(进口品牌)型号：AXIS-165型 原产地：中国大陆 发布时间：2021/1/4 14:18:26更新时间：2024/12/26 10:25:44
产品摘要：对于半导体、金属、高分子材料等广泛的样品，从宏观分析、微观分析、深度分析，或从元素分析到状态分析，都可做多方面评价的ESCA/Auger的复合表面分析装置。XPS灵敏度 11800Kcps（1.30ev，MgKa）400Kcps（0.55ev，单色器）AES灵敏度 500Kcps，S/N500∶1
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详细内容
AXIS-165型KRATOS X射线光电子能谱
对于半导体、金属、高分子材料等广泛的样品，从宏观分析、微观分析、深度分析，
或从元素分析到状态分析，都可做多方面评价的ESCA/Auger的复合表面分析装置。
XPS灵敏度 11800Kcps（1.30ev，MgKa）400Kcps（0.55ev，单色器）
AES灵敏度 500Kcps，S/N500∶1
对于半导体、金属、高分子材料等广泛的样品，从宏观分析、微观分析、深度分析，
或从元素分析到状态分析，都可做多方面评价的ESCA/Auger的复合表面分析装置。
XPS灵敏度 11800Kcps（1.30ev，MgKa）400Kcps（0.55ev，单色器）
AES灵敏度 500Kcps，S/N500∶1
对于半导体、金属、高分子材料等广泛的样品，从宏观分析、微观分析、深度分析，
或从元素分析到状态分析，都可做多方面评价的ESCA/Auger的复合表面分析装置。
XPS灵敏度 11800Kcps（1.30ev，MgKa）400Kcps（0.55ev，单色器）
AES灵敏度 500Kcps，S/N500∶1
对于半导体、金属、高分子材料等广泛的样品，从宏观分析、微观分析、深度分析，
或从元素分析到状态分析，都可做多方面评价的ESCA/Auger的复合表面分析装置。
XPS灵敏度 11800Kcps（1.30ev，MgKa）400Kcps（0.55ev，单色器）
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对于半导体、金属、高分子材料等广泛的样品，从宏观分析、微观分析、深度分析，
或从元素分析到状态分析，都可做多方面评价的ESCA/Auger的复合表面分析装置。
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或从元素分析到状态分析，都可做多方面评价的ESCA/Auger的复合表面分析装置。
XPS灵敏度 11800Kcps（1.30ev，MgKa）400Kcps（0.55ev，单色器）
AES灵敏度 500Kcps，S/N500∶1
对于半导体、金属、高分子材料等广泛的样品，从宏观分析、微观分析、深度分析，
或从元素分析到状态分析，都可做多方面评价的ESCA/Auger的复合表面分析装置。
XPS灵敏度 11800Kcps（1.30ev，MgKa）400Kcps（0.55ev，单色器）
AES灵敏度 500Kcps，S/N500∶1 对于半导体、金属、高分子材料等广泛的样品，从宏观分析、微观分析、深度分析，
或从元素分析到状态分析，都可做多方面评价的ESCA/Auger的复合表面分析装置。
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AES灵敏度 500Kcps，S/N500∶1
对于半导体、金属、高分子材料等广泛的样品，从宏观分析、微观分析、深度分析，
或从元素分析到状态分析，都可做多方面评价的ESCA/Auger的复合表面分析装置。
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对于半导体、金属、高分子材料等广泛的样品，从宏观分析、微观分析、深度分析，
或从元素分析到状态分析，都可做多方面评价的ESCA/Auger的复合表面分析装置。
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对于半导体、金属、高分子材料等广泛的样品，从宏观分析、微观分析、深度分析，
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或从元素分析到状态分析，都可做多方面评价的ESCA/Auger的复合表面分析装置。
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或从元素分析到状态分析，都可做多方面评价的ESCA/Auger的复合表面分析装置。
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或从元素分析到状态分析，都可做多方面评价的ESCA/Auger的复合表面分析装置。
XPS灵敏度 11800Kcps（1.30ev，MgKa）400Kcps（0.55ev，单色器）
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或从元素分析到状态分析，都可做多方面评价的ESCA/Auger的复合表面分析装置。
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或从元素分析到状态分析，都可做多方面评价的ESCA/Auger的复合表面分析装置。
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XPS灵敏度 11800Kcps（1.30ev，MgKa）400Kcps（0.55ev，单色器）
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