性能特点

测量范围：1nm～10000nm

分析软件：软件兼容Windows XP系统，菜单提示完整，测试报告数据齐全，结果有积分、微分分布、平均粒径和表面积等数据，中、英文版本供选择使用。

信号光源：采用波长405nm大功率半导体激光器。

测试精度：平均粒径测试重复性误差≤5％；温度测试精度0.01度。

测试时间：2-5分钟，也可在10～180内任选，可单次、多次和在线连续测试。

测试结果：测试结果以108***粒***的表格和曲线表示。显示粒度分布、平均粒径、体积分布、数量分布两种模式等数据。  提供累积分布、频度分布、累积10%、50%、90%、97%、平均粒径和比表面积等数据，全面表征样品的粒度特征。结果可以直接打印，或转换为图像文件和文本文件等格式。

工作电源：AC220V±10％　50Hz

仪器外形尺寸：长680mm  宽340mm  高530mm

仪器特点：

1、采用独特薄缝样品池，提高采集信号的信噪比。

2、独创的多分散分析算法，可以快速分析出多分散和单分散颗粒体系。

3、直接对样品温度实时测试，避免了样品池和恒温系统温度梯度引起的测量误差。<span lang="EN-US" style="font-size:12.0pt;font-family:宋体;mso

仪器特点：

1、采用独特薄缝样品池，提高采集信号的信噪比。

2、独创的多分散分析算法，可以快速分析出多分散和单分散颗粒体系。

3、直接对样品温度实时测试，避免了样品池和恒温系统温度梯度引起的测量误差。