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产品展示

日立X射线荧光镀层厚度测量仪

点击次数：92发布时间：2021/9/27 18:16:24

日立X射线荧光镀层厚度测量仪

更新日期：2023/2/2 18:46:13

所 在 地：日本

产品型号：FT110A

简单介绍：FT110A是一款XRF台式光谱仪，为电镀行业的特定需求而设计。像日立分析仪器的其他台式光谱仪一样，FT110A使用简单，采用了新的高精度X射线荧光技术，并且可以全天候运行。除此之外，FT110A还有一些特殊的特性，与常规的测厚仪器相比，它更适合大批量的镀层分析工作。

相关标签：镀层测厚仪 X射线荧光测厚仪 日立FT110A 

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