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徕卡精研一体机 Leica EM TXP

点击次数:12 发布时间:2024/7/5 13:41:14

徕卡精研一体机 Leica EM TXP
http://www.app17.com/c158500/products/d13515303.html
 徕卡EM TXP 标靶面制备系统具有定点修块抛光功能,是用锯,磨,铣削,抛光样品后,供扫描电镜,透射电镜,和LM技术检测。

 

产品简介:

精研一体机 Leica EM TXP

 

徕卡EM TXP 标靶面制备系统具有定点修块抛光功能,是用锯,磨,铣削,抛光样品后,供扫描电镜,透射电镜,和LM技术检测。

 

带有一体化体视镜,用于精确定位及对较细微难以观察的目标位置进行样品处理时观察;使用样品旋转手柄,可以改变样品观察角度,0°-60°可调,或者垂直于样品表面90°观察,可利用目镜刻度标尺测量距离。

一体化自动程序控制

一体化自动程序控制,包括自动左右制动机制,进反馈力控制,倒计数功能等,为使用者节约大量时间。

 

表面光洁度和标靶检测

表面处理与目标检测,都通过一体化体视镜来完成,用户不需要程将样品拿出来再进行表面观察检测,这可大大提高使用者的工作效率。

 

 

适配工具多样性

可适配多种多样工具,从而使样品不经转移就可以进行研磨,切割,钻孔,打磨及抛光。并且整个处理过程都可通过体视镜进行观察监控,大大节省时间和费用。


徕卡EM TXP 标靶面制备系统具有定点修块抛光功能,是用锯,磨,铣削,抛光样品后,供扫描电镜,透射电镜,和LM技术检测。

 

产品简介:

精研一体机 Leica EM TXP

 

徕卡EM TXP 标靶面制备系统具有定点修块抛光功能,是用锯,磨,铣削,抛光样品后,供扫描电镜,透射电镜,和LM技术检测。

 

带有一体化体视镜,用于精确定位及对较细微难以观察的目标位置进行样品处理时观察;使用样品旋转手柄,可以改变样品观察角度,0°-60°可调,或者垂直于样品表面90°观察,可利用目镜刻度标尺测量距离。

一体化自动程序控制

一体化自动程序控制,包括自动左右制动机制,进反馈力控制,倒计数功能等,为使用者节约大量时间。

 

 

表面光洁度和标靶检测

表面处理与目标检测,都通过一体化体视镜来完成,用户不需要程将样品拿出来再进行表面观察检测,这可大大提高使用者的工作效率。

原创作者:北京仪光科技有限公司

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