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SENSOFAR公司作为干涉共焦显微镜的发明者，开创性地将共聚焦和干涉技术结合在起，无需插拔任何硬件就可以在软件内自动实现共聚焦、白光干涉和相位差干涉模式的切换。使客户无需花费高昂的费用就能同时拥有共聚焦显微镜和干涉仪。
SENSOFAR在1999年创立之初，就是以三维表面形貌测量为主要研发方向，通过持续不断地研发和申请利技术，在全球范围内创造了数百种表面形貌测量应用产品，积累了丰富的技术实力。
产品描述——紧凑、灵活、强大
Sensofar S lynx是款为工业和研究所设计的全新非接触式3D表面光学轮廓仪，用于工业和科研应用，其设计定位是个紧凑和灵活的系统。它设计简洁、用途多样。光学轮廓仪Slynx能够测量不同的材质，结构，表面粗糙度和波度，几乎涵盖所有类型的表面形貌。它的多功能性能够满足广泛的高端形貌,测量应用。Sensofar的核心是将3种测量方式融于体，确保了其*的性能。配合SensoSCAN软件系统，用户将获得难以置信的直观操作体验。
主要应用
l 半导体晶圆应用
l 汽车零部件
l 消费电子
l 能源
l 材料表面
l 微电子
l LED
l 微体古生物学
l 光学镜片加工
l 模具加工
l 钟表制造
l 腐蚀表面结构
l 摩擦学表面结构
主要功能
1. 共聚焦
共聚焦技术可以用来测量各类样品表面的形貌。它比光学显微镜有更高的横向分辨率,可达0.10um。利用它可实现临界尺寸的测量。当用150倍、0.95数值孔径的镜头时，共聚焦在光滑表面测量斜率达70°（粗糙表面达86°）。利的共聚焦算法保证Z轴测量重复性在纳米范畴。
2. 干涉
白光垂直扫描干涉（VSI）是种广泛用于测量表面特性（如形貌或透明薄膜结构）的功能强大的技术。它适合测量从光滑到适度粗糙的表面，无论物镜的NA或者放大倍数变化，均可以提供纳米的垂直分辨率。
3. 多焦面叠加
多焦面叠加技术是用来测量非常粗糙的表面形貌。根据Sensofar在共聚焦和干涉技术融合应用方面的丰富经验，特别设计了此功能来补足低倍共聚焦测量的需要。该技术的大亮点是快速(mm/s)、扫描范围大和支援斜率大（大86°）。此功能对工件和模具测量特别有用。
主要优势
1.实时图像
SENSOSCAN为您呈现*的共聚焦实时图像。我们的图像质量和速度进步提升，在共聚焦照明模式下可达9帧/，在明场照明模式下高达30帧/。与此同时，还有多种实时图像模式选择。
2. 丰富的参数设定
通过调整参数可优化测量步骤。例如，优化自动对焦设定能够减少测量时间，采用多的照明和优化扫描范围可观察复杂的3D形貌。优化后的测量参数可存储为单点（SMR）或多点（MMR）程序测量。
3.键3D测量用户只需找到测量位置
点 击 3 D 测 量 按钮，SensoSCAN的软件 将 自 动 调 整 照 明 亮度，自动对焦，执行较佳的测量模式，将精准的测量结果于弹指间为您呈现。
4. 交互式的3D和2D视图提供多样的分析
演示及渲染选项。内置测量软件有测量尺寸，角度，距离，直径，标注特性等功能。因此，SensoSCAN是款解决各种分析任务的理想软件。您还可选择以下两套高阶软件来完成更复杂的分析SensoMAP和SensoPRO。
5. 进阶分析
更丰富的进阶分析功能可进行数据补偿，形状去除（平面，球形，不规则形状），滤波分析，剪裁和提取轮廓等。用户可生成分析模版保证分析的连续性和*性。
