产品展示
优质供应
详细内容
蔡司 Sigma系列场发射扫描电子显微镜
Sigma 系列产品：用于高品质成像与高分析的场发射扫描电子显微镜
灵活的探测，4步工作流程，高的分析性能
将高的分析性能与场发射扫描技术相结合，利用成熟的 Gemini 电子光学元件。多种探测器可选：用于颗粒、表面或者纳米结构成像。Sigma 半自动的4步工作流程节省大量的时间：设置成像与分析步骤，提高效率。
Sigma 300 性价比高。Sigma 500 装配有一流的背散射几何探测器，可快速方便地实现基础分析。任何时间，任何样品均可获得精准可重复的分析结果。
（一）、产品特点
1. 用于清晰成像的灵活探测
- 利用探测术为您的需求定制 Sigma，表征所有样品。
- 利用 in-lens 双探测器获取形貌和成份信息。
- 利用新一代的二次探测器，获取高达50%的信号图像。在可变压力模式下利用 Sigma 创新的 C2D 和 可变压力探测器，在低真空环境下获取高达85%对比度的锐利的图像。
2. 自动化加速工作流程
- 4步工作流程让您控制 Sigma 的所有功能。在多用户环境中，从快速成像和节省培训先，先对样品进行导航，然后设置成像条件。
- 先，先对样品进行导航，然后设置成像条件。
- 接下来对样品感兴趣的区域进行优化并自动采集图像。后使用工作流程的后一步，将结果可视化。
3. 高分析型显微镜
- 将扫描电子显微镜与基本分析相结合：Sigma 一流的背散射几何探测器大大提升了分析性能，特别是对电子束敏感的样品。
- 在一半的检测束流和两倍的速度条件下获取分析数据。
- 获益于8.5 mm 短的分析工作距离和35°夹角，获取完整且无阴影的分析结果。
4. 基于成熟的 Gemini 技术
- Gemini 镜头的设计结合考虑了电场与磁场对光学性能的影响，并将场对样品的影响降至更低。这使得即使对磁性样品成像也能获得出色的效果。
- Gemini in-lens 的探测确保了信号探测的效率，通过二次检测(SE)和背散射(BSE)元件同时减少成像时间。
- Gemini 电子束加速器技术确保了小的探测器尺寸和高的信噪比。
5. 用于清晰成像的灵活探测
- 利用新的探测技术表征所有的样品。
- 在高真空模式下利用创新的 ETSE 和 in-lens 探测器获取形貌和高分辨率的信息。
- 在可变压力模式下利用可变压力二次电子和 C2D 探测器获取锐利的图像。
- 利用 aSTEM 探测器生成高分率透射图像。
- 利用 BSD 或者 YAG 探测器进行成份分析。
（二）、配件
1. SmartEDX
为您带来一体化能谱分析解决方案
如果单采用SEM成像技术无法全面了解部件或样品，研究人员就需要在SEM中采用能谱仪（EDS）来进行显微分析。通过针对低电压应用而优化的能谱解决方案，您可以获得元素化学成分的空间分布信息。得益于：
- 优化了常规的显微分析应用，并且由于氮化硅窗口优秀的透过率，可以探测轻元素的低能X射线。
- 工作流程引导的图形用户界面大地改善了易用性，以及多用户环境中的重复性。
- 完整的服务和系统支持，由蔡司工程师为您的安装、预防性维护及保修提供一站式服务。
2. 拉曼成像与扫描电镜联用系统
完全集成化的拉曼成像
在您的数据中加入拉曼光谱及成像结果，获得材料更丰富的表征信息。通过扩展蔡司Sigma 300，使其具备共聚焦拉曼成像功能，您能够获得样品中的化学指纹信息，从而指认其成分。
- 识别分子和晶体结构信息
- 可进行3D分析，在需要时可关联SEM图像、拉曼面扫描成像和EDS数据
- 完全集成RISE让您体验由的SEM和拉曼系统带来的优势。
3. 基于蔡司场发射扫描电镜的原位实验平台
通过集成的一体化解决方案建立材料性能与微结构之间的关联
蔡司新开发了自动化的原位加热与拉伸实验平台，能够向您揭示材料微结构的变化是如何影响材料宏观性能的。基于此平台，能够自动观察材料在加热和拉伸过程中的变化，并随时绘制材料的拉力-应力曲线。通过集成该原位加热与拉伸实验解决方案，将大的扩展您的蔡司场发射扫描电镜的功能，从而助力金属，合金，高分子材料，塑料，复合材料以及陶瓷等材料的深入研究。
该原位实验平台将力学拉伸/压缩样品台，加热单元，以及为高温环境设计的二次电子和背散射电子探测器，与EDS和EBSD分析相结合。得益于蔡司独特的Gemini电子光学镜筒设计，使上述原位硬件的集成变得非常简单。所有系统部件均通过安装于单台电脑上的统一的软件界面控制，从而实现了自动化的，无人值守的材料测试过程。系统允许定义多个感兴趣区域（ROI），并通过自动特征点追踪功能，为您重新定义了自动化连续成像和分析（例如EDS和EBSD）的标准。
安装在SEM仓室内的拉伸/加热台
优势：
- 简单而快速的实验设置，在数据采集过程中无需人工监视
- 自动化的原位实验流程，保证了数据采集具有高重复性，高精度，以及不依赖于操作人员的高可靠性
- 同时保证高通量和高分辨数据采集，可快速获得在统计意义上具有代表性的结果
- 高质量的数据保证了可靠的后期数据处理，例如由可使用GOM开发的数字图像关联（DIC）技术软件处理产生的应力分布图
- 简便的数据管理
